ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
18
− ток анода трубки – 20mA;
− скорость вращения детектора 1град/мин.
Образец устанавливают в держателе дифрактометра так, чтобы вы-
бранное направление x было горизонтальным. Съемку проводят при углах
ψ = 0°; 26,6°; 39,2°; 45°; 50,8°. (Эти углы удобны, поскольку соответствуют
равномерной шкале значений sin
2
ψ = 0; 0,2; 0,4; 0,5; 0,6.) Положение ψ = 0°
соответствует обычному сцеплению счетчика с образцом, когда угол, на
который повернут счетчик, равен удвоенному углу поворота образца. Что-
бы получить отражение от плоскостей, наклоненных к поверхности под
углом ψ, образец разъединяют со счетчиком, поворачивают на угол ψ и
вновь сцепляют со счетчиком. При точных измерениях для каждого
значе-
ния угла ψ необходимо определить положение максимума образца и эта-
лона и смещение Δ(2θ
ψ
) образца исправить на смещение Δ(2θ
ψ
) эталона,
вызванное дефокусировкой.
Полученные экспериментальные данные занести в таблицу:
Ψ
2θ Образец
2θ Эталон
Δ(2θ
ψ
)
Δ(2θ
ψ
)
исправл
0
26,6
39,2
45,0
50,8
Методом наименьших квадратов построить экспериментальную зави-
симость Δ(2θ
ψ
) от sin
2
ψ. В этом случае K – тангенс угла наклона прямой
y = Kx, проходящей через начало координат:
K= ∑x
i
y
i
/∑x
i
2
,
где x
i
– значение sin
2
ψ; y
i
– соответствующие значения Δ(2θ
ψ
).
Используя табличные значения K
1
, рассчитать напряжение σ
x
, ис-
пользуя
формулу (3).
Контрольные вопросы
1. Ориентированные микронапряжения. Их влияние на механические
свойства конструкционных материалов.
2. Сущность sin
2
ψ-метода.
3. Методика расчета ориентированных микронапряжений
σ
x
.
Литература
1. Уманский Я.С. Рентгенография металлов и полупроводников /
Я.С. Уманский. – М. : Металлургия, 1979. – С. 313.
2. Васильев Д.М. Заводская лаборатория / Д.М. Васильев. – 1975. –
№ 8. – С. 972.
