ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
8
3. Назначение и общее устройство дифрактометра ДРОН-4.
4. Метод фокусировки по Бреггу–Брентано.
5. Устройство и принцип работы гониометра ГУР-9.
6. Порядок включения и подготовка к работе дифрактометра ДРОН-4.
7. Порядок обработки экспериментальных рентгенодифракционных
данных.
8. Методики проведения качественного фазового анализа по данным
порошкового рентгенодифракционного эксперимента. Картотека ASTM;
база порошковых данных ICDD.
Литература
1. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия /
Я.С. Уманский, Ю.А. Скаков, А.Н. Иванов и др. – М. : Металлургия, 1982.
2. Миркин П.С. Справочник по рентгеноструктурному анализу /
П.С. Миркин. – М. : Иностранная литература, 1961.
3. Русаков Ф.Ф. Рентгенография металлов / Ф.Ф. Русаков. – М. : Атом-
издат., 1977.
Лабораторная работа № 2
Прецизионное определение периодов кристаллической решетки
поликристаллического образца рентгенодифракционным методом
Цель работы: прецизионно измерить периоды кристаллической ре-
шетки поликристаллического образца методом экстраполяции.
Период кристаллической решетки является одним из основных пара-
метров, определяющих свойства кристаллического вещества. Измерение
периодов кристаллической решетки необходимо при идентификации ве-
ществ, при определении напряжений, возникающих в материалах, при из-
мерении коэффициентов термического расширения и т. д. В зависимости
от задач, которые ставятся при измерении периодов решетки, точность их
определения может
быть различна. Современная техника рентгенодифрак-
ционных исследований позволяет определить период кристаллической ре-
шетки с точностью до 10
–5
Å.
Периоды кристаллической решетки определяются путем измерения
межплоскостных расстояний для ряда линий с известными индексами от-
ражения hkl. Число линий должно быть, по крайней мере, равно числу не-
известных параметров. Определение параметров решетки, как и любое
экспериментальное измерение невозможно без погрешностей. Эти по-
грешности можно разделить на инструментальные и физические.
К
инструментальным факторам можно отнести:
1. Эксцентриситет образца по отношению к главной оси гониометра.
2. Неточное определение углов поворота образца и детектора (точ-
ность их определения на дифрактометре ДРОН-4 составляет 0,01
о
)
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 6
- 7
- 8
- 9
- 10
- …
- следующая ›
- последняя »