ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
9
3. Расходимость рентгеновских лучей.
4. Погрешности счета детектора.
К физическим факторам относятся:
1. Поглощение рентгеновских лучей веществом образца.
2. Преломление рентгеновских лучей.
3. Неравномерное распределение интенсивности фона.
В конечном счете, все источники погрешностей приводят к неточному
измерению угла отражения.
Межплоскостные расстояния связаны с углами отражения формулой
Вульфа–Брегга:
2
d
hkl
sinθ = nλ, (1)
где
d
hkl
– межплоскостные расстояния, θ – угол отражения, λ – длина
волны монохроматического рентгеновского излучения, n – порядок отра-
жения. Дифференцируя уравнение Вульфа-Брегга, можно получить выраже-
ние относительной погрешности измерения межплоскостного расстояния:
Δd/d = Δλ/λ = ctg(θ)Δθ, (2)
где Δλ/λ – относительная погрешность длины волны излучения; Δθ – по
-
грешность в измерении угла отражения.
Из уравнения (2) следует, что погрешность Δd/d уменьшается при уве-
личении θ и наиболее точными должны быть измерения для линий под уг-
лами θ, близкими к 90
о
, так как ctgθ—> 0 при θ —> 90
о
. Однако дифракци-
онные линии под углами θ > 85
о
обычно имеют большую ширину профиля,
а это снижает точность определения величины θ. Поэтому минимальная
погрешность Δd/d получается при измерении отражений под углами θ в
интервале 80–85
о
. К сожалению, далеко не все вещества дают на рентгено-
граммах линии под такими большими углами. Однако, в любом случае, для
измерений следует использовать линии с возможно бóльшими углами от-
ражения θ.
Определение периодов кристаллической решетки методом экстрапо-
ляции применимо, главным образом, к высокосимметричным веществам,
относящимся к кубической, гексагональной или
тетрагональным сингони-
ям. Для кубических кристаллов с параметром элементарной ячейки а, ис-
пользуя уравнение (1), можно записать (считая Δλ = 0):
Δa/a = –ctg(θ) Δθ = f(θ), (3)
где Δθ – сумма инструментальных смещений дифракционных линий.
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 7
- 8
- 9
- 10
- 11
- …
- следующая ›
- последняя »
