ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
11
− режим сканирования – непрерывный,
− шаг сканирования – 0,1°,
− интервал сканирования 2θ – 10–90°.
2. Обработать полученную дифрактограмму (определить углы отра-
жения θ и интенсивности дифракционных максимумов, рассчитать соот-
ветствующие межплоскостные расстояния).
3. Проиндицировать рентгенограмму.
4. Используя квадратичную форму для кубической сингонии, опреде-
лить параметры кристаллической решетки по всем дифракционным мак-
симумам.
5. Рассчитать
экстраполяционную функцию.
6. Результаты занести в таблицу.
№
рефлекса
Угол 2θ
hkl
h2 + k2 + l2
а
1/2[(cos
2
θ/sinθ) +
(cos
2
θ/θ)]
1.
n.
7. Построить график зависимости параметра решетки а от
[(cos
2
θ/sinθ)+(cos
2
θ/θ)].
8. Провести экстраполяционную прямую, используя метод МНК (по
соответствующей программе на компьютере).
9. Определить прецизионный период решетки.
Контрольные вопросы
1. Принцип определения параметров элементарной ячейки рентгено-
диф-ракционным методом.
2. Причины возникновения погрешностей при определении парамет-
ров кристаллической решетки. Пути минимизации погрешностей.
3. Методика прецизионного определения параметров кристаллической
решетки
поликристаллического образца кубической сингонии.
Литература
1. Метод порошка в рентгенографии / А. Азаров, М. Бургер. – М. :
Иностранная литература, 1961.
2. Русаков А.А. Рентгенография металлов / А.А. Русаков. М. Атомиз-
дат,1977.
3. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия /
Я.С. Уманский, Ю.А. Скаков, А.Н. Иванов и др. – М. : Металлургия, 1982.
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 9
- 10
- 11
- 12
- 13
- …
- следующая ›
- последняя »
