ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
18
Связь межу теоретическими и экспериментальными значениями
структурных множителей интенсивности с учетом (4) можно записать:
kF
эксп
= F
теор
exp(-Bsin(θ)/λ) (5),
где k - коэффициент приведения к абсолютной шкале,
F
эксп
= I
эксп
/LP (5*),
где I
эксп
- измеренная интенсивность отражения; LP – угловые
множители интенсивности.
F
теор
=
∑
j
f
j
exp(2πi(hx
j
+ ky
j
+ lz
j
) (6)
В уравнении (5) содержатся два неизвестных множителя k и B.
Если определить интенсивность отражений от одной и той же
кристаллографической плоскости в первом и втором порядке отражений ,
то можно записать два уравнения и решить их как систему относительно k
и B. В случае мартенсита наиболее удобными являются отражения (110) и
(220). В соответствии с (5) получается система:
kF
110эксп
= F
110теор
exp(-2Bsin(θ)/λ)
2
(110)
kF
220эксп
= F
220теор
exp(-2Bsin(θ)/λ)
2
(220)
после логарифмирования получаем :
2
110
2
220
220110
220110 sinsin
ln
−
=
λ
θ
λ
θ
B
FF
FF
эксптеор
теорэксп
отсюда следует:
