Теория строения материалов (Ч.I). Материаловедение и технология конструкционных материалов (Ч.I). Барсуков В.Н. - 38 стр.

UptoLike

Составители: 

гексагональной.
Вдоль ребра c элементарной ячейки (т.е. вдоль рядов атомов никеля)
располагается винтовая ось симметрии 6
3
, а перпендикулярно ей (проходя
через атомы мышьяка) — зеркальная плоскость симметрии т. Перпендику-
лярно основанию элементарной ячейки через его длинную диагональ прохо-
дит зеркальная плоскость симметрии m, а через его короткую диагональ
плоскость скользящего отражения с.
Из сказанного следует, что пространственная группа симметрии нике-
линаР6
3
/тmс.
III. Порядок выполнения, задание и содержание отчета
1. На модели кристаллической структуры:
а) мысленно выделить элементарную ячейку и определить сингонию и
тип решетки Бравэ;
б) найти поворотные, инверсионные и винтовые оси симметрии, воз-
можные в соответствии с сингонией;
в) найти зеркальные плоскости симметрии и плоскости скользящего
отражения, возможные
в соответствии с решеткой Бравэ;
г) найти элементы симметрии, параллельные главным направлениям (в
соответствии с сингонией).
2. Составить символ пространственной группы симметрии анализируе-
мой кристаллической структуры.
Отчет по занятию должен включать наименование структурного типа и
схематическое изображение элементарной ячейки анализируемой кристалли-
ческой структуры, полный перечень (т.е. обозначения и количество) найден
-
ных в ней элементов симметрии и символ соответствующей пространствен-
ной группы.
Литература: [1], с. 63-71, 76-81, или [2], с. 101-106, 111-119, или [3],
с. 54-56, 60-65.
ЗАНЯТИЕ 6. ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПЛОТНЕЙШИХ УПАКОВОК,
ЗАПОЛНЕНИЯ ПУСТОТ И КООРДИНАЦИОННЫХ ПОЛИЭДРОВ
НА МОДЕЛЯХ КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ СТРУКТУР
I. Цель занятия
Приобретение навыков определения слойности плотнейших упаковок,
типа и доли заполненных пустот и координационных полиэдров на моделях
кристаллических структур гексагональной и кубической сингоний.
II. Основные теоретические положения
ПЛОТНОУПАКОВАННЫЕ СЛОИ И ПЛОТНЕЙШИЕ УПАКОВКИ
38