ВУЗ:
Составители:
83
ваемого  квантового  выхода  η
в
,  который  определяется  как  отно-
шение числа пар образовавшихся фотоносителей к числу погло-
щенных фотонов [10]. Из (23) следует, что процесс  поглощения 
света в материале описывается экспоненциальной зависимостью. 
Тогда, фототок в цепи нагрузки фотоприемника: 
(
)
(
)
3
1
L
ф в пад
I q N e P h
α
η ν
−
= −
  (48) 
где 
N
3 
– коэффициент ввода,  учитывающий потери и отражения 
при  оптическом  согласовании  выходного  торца  световода  и фо-
точувствительной  площадки; 
L
  –  толщина  области  поглощения 
света. Из сравнения (47) и (48) следует: 
(
)
3
1
L
в
N e
α
η η
−
= −
  (49) 
Квантовая  эффективность,  близкая  к  1,  сохраняется  при 
примерно  двукратном  повышении  энергии  фотона.  Однако  при 
дальнейшем укорочении длины волны падающего света рост ко-
эффициента поглощения ограничивается, и квантовая эффектив-
ность падает. Таким образом, фотоэффект наиболее целесообра-
зен  вблизи  длинноволновой  границы  полупроводника.  При  пре-
образовании  высокоэнергетических  фотонов  значительная  часть 
их энергии превращается в тепловое излучение, что снижает его 
эффективность в ВОСП. 
Хотя в электронике существуют две формы проявления фо-
тоэлектрического эффекта: фотопроводимость и так называемый 
фотовольтаический  эффект,  в  приемниках  ВОСП  используется 
только последний [15]. Фотовольтаический эффект возникает при 
воздействии света на полупроводниковые структуры со встроен-
ным  потенциальным  барьером,  например, 
p-n
  переходом.  Такой 
полупроводниковый  фотоприемник называется  фотодиодом. 
Упрощенная  структура  фотодиода  с 
p-n
  переходом  и  соот-
ветствующая ей зонная  диаграмма, построенная при отсутствии 
напряжения  смещения,  показаны  на  рис.  47  [15].  Фотодиод  со-
стоит  из 
p
-области,  называемой  базой, 
n
-области,  называемой 
коллектором,  и  пограничной  области 
p-n
  перехода.  Предполо-
жим, что оптическое излучение проникает как в базу, так и в кол-
лектор. В результате в 
p
- и 
n
-областях, а также в области 
p-n
 пе-
рехода  появятся  электронно-дырочные  пары.  Носители  заряда 
                               83
ваемого квантового выхода ηв, который определяется как отно-
шение числа пар образовавшихся фотоносителей к числу погло-
щенных фотонов [10]. Из (23) следует, что процесс поглощения
света в материале описывается экспоненциальной зависимостью.
Тогда, фототок в цепи нагрузки фотоприемника:
                  I ф = qηв N 3 (1 − e−α L ) Pпад ( hν ) (48)
где N3 – коэффициент ввода, учитывающий потери и отражения
при оптическом согласовании выходного торца световода и фо-
точувствительной площадки; L – толщина области поглощения
света. Из сравнения (47) и (48) следует:
                        η = ηв N 3 (1 − e−α L )         (49)
     Квантовая эффективность, близкая к 1, сохраняется при
примерно двукратном повышении энергии фотона. Однако при
дальнейшем укорочении длины волны падающего света рост ко-
эффициента поглощения ограничивается, и квантовая эффектив-
ность падает. Таким образом, фотоэффект наиболее целесообра-
зен вблизи длинноволновой границы полупроводника. При пре-
образовании высокоэнергетических фотонов значительная часть
их энергии превращается в тепловое излучение, что снижает его
эффективность в ВОСП.
     Хотя в электронике существуют две формы проявления фо-
тоэлектрического эффекта: фотопроводимость и так называемый
фотовольтаический эффект, в приемниках ВОСП используется
только последний [15]. Фотовольтаический эффект возникает при
воздействии света на полупроводниковые структуры со встроен-
ным потенциальным барьером, например, p-n переходом. Такой
полупроводниковый фотоприемник называется фотодиодом.
     Упрощенная структура фотодиода с p-n переходом и соот-
ветствующая ей зонная диаграмма, построенная при отсутствии
напряжения смещения, показаны на рис. 47 [15]. Фотодиод со-
стоит из p-области, называемой базой, n-области, называемой
коллектором, и пограничной области p-n перехода. Предполо-
жим, что оптическое излучение проникает как в базу, так и в кол-
лектор. В результате в p- и n-областях, а также в области p-n пе-
рехода появятся электронно-дырочные пары. Носители заряда
Страницы
- « первая
 - ‹ предыдущая
 - …
 - 81
 - 82
 - 83
 - 84
 - 85
 - …
 - следующая ›
 - последняя »
 
