Интегральные устройства РЭ. Белова И.В. - 70 стр.

UptoLike

Составители: 

51
Рис. 4.7. Графическое определение диаметра ЦМД d и критических пара-
метров
d
0
, d
2
, H
0
, H
2
при различных полях H
B
4.5. Запись, стирание и считывание информации
в ЦМДмикросхемах
ЦМД кристалл включает нанесенную на немагнитную подложку пленку
МПФГ с размещенными на ее поверхности или в приповерхностном слое
функциональными узлами: генераторами, переключателями, детекторами, на-
копительными регистрами и др. ЦМД кристалл является главным компонентом
ЦМДмикросхемы.
Как отмечалось выше (рис 4.1), в магнитном
поле с постоянным градиен-
том управлять ЦМД невозможно, поскольку длина его пробега до превращения
в полосовой домен обычно не превышает 100 мкм. Это мало по сравнению с
линейным размером ЦМДкристалла порядка 1 см.
Поэ тому управление ЦМД осуществляют посредством
магнитостати-
ческих ловушек
(МСЛ), позволяющих сохранять форму ЦМД при перемеще-