ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
12
6. Записать распределение примеси при наклонной имплантации для случая
неусеченной гауссианы с учетом эффекта каналирования .
7. Записать распределение примеси при наклонной имплантации для случая
усеченной гауссианы с учетом эффекта каналирования .
2. Локальная наклонная имплантация
2.1. Распределение примесей при наклонной имплантации
с учетом бокового рассеяния под край защитной маски
При наклонной имплантации вблизи края защитной маски толщиной d
( d>>R
p
+3∆R
p
) в зависимости от ориентации пучка ионов и его угла отклонения от
нормали могут быть два случая : имплантация под край защитной маски
(рис. 3,а) и имплантация с образованием теневого участка у края защитной маски
(рис. 3,б) [1].
В обоих случаях при наклонной имплантации под углом θ относительно
нормали к поверхности распределение ионно-имплантированных примесей по
глубине N(x) описывается неусеченной (1.1) или усеченной (1.2) гауссианами.
На заданной глубине x перераспределение ионно-имплантированных
примесей за счет бокового рассеяния будет описываться по модели диффузии в
неограниченное тело из полубесконечного пространства:
- при имплантации под край защитной маски
'
2
'
2
)(
),(
⊥
∆
−
=
R
ay
erfc
xN
yxN ; (2.1)
- при имплантации с образованием теневого участка у края защитной маски
)
2
''
2(
2
)(
2
''
2
)(
),(
''
⊥⊥
∆
−
−=
∆
−
=
R
ay
erfc
xN
R
ya
erfc
xN
yxN . (2.2)
N(x,y)/Nm
И О Н Ы
1
0.5
0
Защитная маска
а '
d
а)
12
6. Записать распределен ие примеси при н ак лон н ой имплан тации для случая
н еусечен н ой гауссиан ы сучетом э ф ф ек так ан алирован ия.
7. Записать распределен ие примеси при н ак лон н ой имплан тации для случая
усечен н ой гауссиан ы сучетом э ф ф ек так ан алирован ия.
2. Лок аль н ая н ак лон н ая имплан тация
2.1. Распределен иепримесей при н ак лон н ой имплан тации
сучетом бок овогорассеян ия под к рай защ итн ой маск и
При н ак лон н ой имплан тации вблизи к рая защ итн ой маск и толщ ин ой d
(d>>Rp+3∆Rp) в зависимости от ориен тации пучк аион ов и его углаотк лон ен ия от
н ормали могут бы ть два случая: имплан тация под к рай защ итн ой маск и
(рис. 3,а) и имплан тация собразован ием тен евого участк а у к рая защ итн ой маск и
(рис. 3,б) [1].
В обоих случаях при н ак лон н ой имплан тации под углом θ отн оситель н о
н ормали к поверхн ости распределен ие ион н о-имплан тирован н ы х примесей по
глубин еN(x) описы вается н еусечен н ой (1.1) или усечен н ой (1.2) гауссиан ами.
Н а задан н ой глубин е x перераспределен ие ион н о-имплан тирован н ы х
примесей за счет бок ового рассеян ия будет описы вать ся по модели диф ф узии в
н еогран ичен н оетело из полубеск он ечн огопростран ства:
- при имплан тации под к рай защ итн ой маск и
N ( x) y − a'
N ( x, y ) = erfc ; (2.1)
2 2 ∆R⊥'
- при имплан тации собразован ием тен евого участк ау к рая защ итн ой маск и
N ( x) a ' '− y N ( x) y − a' '
N ( x, y ) = erfc = (2 − erfc ). (2.2)
2 2∆R⊥ '
2 2∆R⊥'
ИО Н Ы
За щ и т на я м а с ка
d
0 а'
0.5
1
N(x,y)/Nm
а)
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 10
- 11
- 12
- 13
- 14
- …
- следующая ›
- последняя »
