ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
23
б) усеченной гауссианой .
4. Записать распределение примеси в области теневого участка у края защитной
маски, если профиль наклонно имплантируемых примесей по глубине
описывается :
а) неусеченной гауссианой с учетом эффекта каналирования ;
б) усеченной гауссианой с учетом эффекта каналирования.
5. В условиях вопроса 3 найти аналитическую зависимость глубин залегания
x
j1,2
(у) сформированных p-n переходов.
6. В условиях вопроса 4 найти аналитическую зависимость глубин залегания
x
j1,2
(у) сформированных p-n переходов.
7. Нарисовать и сравнить два профиля распределения примесей под краем
защитной маски, если профили наклонно имплантируемых примесей по
глубине описываются неусеченными гауссианами при ∆R
p1
<∆R
p2
и
∆R
p⊥1
<∆R
p⊥2
.
2.2. Распределение примесей при наклонной имплантации
с учетом бокового рассеяния под края щели в защитной маске
При наклонной имплантации через щель в защитной маске (рис. 9) под углом
θ относительно нормали к поверхности у правого края щели внедрение ионов
происходит под защитный слой , а у левого края щели образуется теневая область.
Учитывая результаты , полученные в п. 2.1, можно построить распределение
примесей с учетом бокового рассеяния ионов, наклонно имплантированных через
щель в защитной маске размером 2 а :
⊥
∆
−
−
⊥
∆
−
=
'
2
''
'
2
'
2
)(
),(
R
ya
erfc
R
ya
erfc
xN
yxN
, (2.5)
где
;sin
'
θ
⊥⊥
∆=∆ RR
θ
tgxdaa )('
+
+
−
=
;
.''
θ
xtgaa
+
=
Если наклонно имплантируемый профиль описывается по глубине
усеченной гауссианой (1.2), то распределение примесей с учетом бокового
рассеяния [1] будет иметь вид
⊥
∆
−
−
⊥
∆
−
∆
−
−
⋅
∆
+∆
=
'
2
''
'
2
'
2
2
2
)cos(
)
2
cos
1(
2
2
),(
R
ya
erfc
R
ya
erfc
R
p
Rx
e
R
p
R
erfR
Q
yxN
θ
θ
π
. (2.6)
23 б) усечен н ой гауссиан ой. 4. Записать распределен ие примеси в области тен евого участк ау к рая защ итн ой маск и, если проф иль н ак лон н о имплан тируемы х примесей по глубин е описы вается: а) н еусечен н ой гауссиан ой сучетом э ф ф ек так ан алирован ия; б) усечен н ой гауссиан ой сучетом э ф ф ек так ан алирован ия. 5. В условиях вопроса 3 н айти ан алитическ ую зависимость глубин залеган ия xj1,2(у) сф ормирован н ы х p-n переходов. 6. В условиях вопроса 4 н айти ан алитическ ую зависимость глубин залеган ия xj1,2(у) сф ормирован н ы х p-n переходов. 7. Н арисовать и сравн ить два проф иля распределен ия примесей под к раем защ итн ой маск и, если проф или н ак лон н о имплан тируемы х примесей по глубин е описы ваю тся н еусечен н ы ми гауссиан ами при ∆Rp1<∆Rp2 и ∆Rp⊥1<∆Rp⊥2. 2.2. Распределен иепримесей при н ак лон н ой имплан тации сучетом бок ового рассеян ия под к рая щ ели в защ итн ой маск е При н ак лон н ой имплан тации через щ ель в защ итн ой маск е (рис. 9) под углом θ отн оситель н о н ормали к поверхн ости у правого к рая щ ели вн едрен ие ион ов происходит под защ итн ы й слой, ау левогок рая щ ели образуется тен евая область . У читы вая резуль таты , получен н ы е в п. 2.1, мож н о построить распределен ие примесей сучетом бок ового рассеян ия ион ов, н ак лон н оимплан тирован н ы х через щ ель в защ итн ой маск е размером 2а : N ( x) a '− y a ''− y N ( x, y ) = erfc −erfc , (2.5) 2 2 ∆ R ' 2 ∆ R ' ⊥ ⊥ где ∆R⊥' = ∆R⊥ sin θ ; a ' = −a + ( d + x )tgθ ; a ' ' = a + xtgθ . Е сли н ак лон н о имплан тируемы й проф иль описы вается по глубин е усечен н ой гауссиан ой (1.2), то распределен ие примесей с учетом бок ового рассеян ия [1] будет иметь вид ( x − R p cosθ )2 − 2∆R2 N ( x, y) = Q ⋅e erfc a'− y −erfc a''− y . (2.6) π R p cosθ 2∆R⊥ ' 2∆R⊥ ' 2 ∆R(1+erf ) 2 2∆R
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 21
- 22
- 23
- 24
- 25
- …
- следующая ›
- последняя »