ВУЗ:
Составители:
50
экспоненциальное распределение, при k1 оно характеризуется возрас-
тающей во времени интенсивностью отказов, а при k
1 интенсивность от-
казов уменьшается во времени.
Распределение Вейбулла в теории надежности широко используется
при исследовании характеристик надежности полупроводниковых прибо-
ров (k
1), применяется при ускоренных испытаниях компонентов РЭС в
форсированных режимах и при исследовании надежности в период прира-
ботки (k
1), а также при износе и старении.
Гамма-распределение имеет следующие показатели надежности:
частота отказов
)!1k(
ekt
)t(
k
0
t1k
k
0
; (2.41)
вероятность безотказной работы
1k
0i
i
0
t
;
!i
)t(
e)t(P
0
(2.42)
интенсивность отказов
;
!i
)t(
)!1k(
t
)t(P
)t(
)t(
k
0i
i
0
1kk
0
(2.43)
среднее время безотказной работы
.
k
dt)t(PT
0
0
(2.44)
Параметры гамма-распределения
0
и k, а также зависимости (2.41),
(2.42), (2.43) аналогичны соответствующим параметрам и графикам рас-
пределения Вейбулла (рис. 2.5) и поэтому подробно не анализируются.
Основные характеристики гамма-распределения:
математическое ожидание M(t) =
k
;
дисперсия
2
=
2
k.
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 48
- 49
- 50
- 51
- 52
- …
- следующая ›
- последняя »