Составители:
36
факторов деградации свойств полупроводниковых приборов, равнознач-
ных по величине. Время восстановления ремонтируемых изделий, на-
работка до отказа невосстанавливаемых изделий в ряде случаев при-
ближенно также распределены по нормальному закону.
Плотность распределения времени наработки на отказ при нормаль-
ном законе определяется по выражению
2
2
()
2
2( )
2
2
1
() .
2( )
tT
ft e
−
−
σ
=
πσ
(28)
Вероятность безотказной работы имеет вид
2
2
2
()
2( )
2
2
1
() d 1 .
2
tT
t
tT
Pt e t F
−−
∞
σ
−
==−
σ
σπ
∫
(29)
Среднее время наработки до отказа можно получить по выражению
2
2
2
2( )
2
22
2
0
()d ,
2(/)
T
TtfttT e
FT
−
∞
σ
σ
==+
πσ
∫
(30)
где T, D
2
= (σ
2
)
2
– среднее значение и дисперсия времени между отказа-
ми в нормальном законе; F(T/σ
2
) – функция Лапласа. Весьма часто нор-
мальному закону подчиняются отказы, вызванные разрегулировками,
уходами параметров аппаратуры за поле допусков.
Распределение Вейбула. Такое распределение характерно для отка-
зов многих невосстанавливаемых изделий АТ. Это, например, подшип-
ники качения, электронные лампы, полупроводниковые элементы, ги-
роскопы. Оно обычно используется и для описания усталостной долго-
вечности, характеристик прочности авиационных конструкций при ус-
коренных испытаниях элементов АТ в форсированных режимах.
Плотность распределения времени наработки на отказ здесь будет
0
1
30
() ,
k
t
k
ft kt e
−λ
−
=λ
(31)
где λ
0
определяет масштаб, а параметр k асимметрию и эксцесс распре-
деления.
)
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 34
- 35
- 36
- 37
- 38
- …
- следующая ›
- последняя »
