Метрологическое обеспечение измерительных систем. Данилов А.А. - 38 стр.

UptoLike

Составители: 

38
Рекомендуемое количество измерений в проверяемой точке диа-
пазона измерений ИК приведено в таблице 5, составленной на основе
МИ 2440 [31], и зависит от априорных сведений о существенности
случайной составляющей погрешности и вариации.
Таблица 5 Рекомендуемое количество измерений в точке диапазона измере-
ний ИК
Составляющие погрешности:
Рекомендуемое
количество измерений
случайная
вариация
Не существенна
Не существенна
1
Не существенна
Существенна
2
Существенна
Не существенна
8-10
Существенна
Существенна
16-20
При наличии вариации эксперимент осуществляют дважды: сначала при
подходе к проверяемой точке диапазона измерений ИК со стороны меньших,
а затем – со стороны больших значений (или наоборот).
При отсутствии априорных сведений о существенности состав-
ляющих погрешности целесообразно провести исследование состав-
ляющих погрешности ИК в соответствии с рекомендациями пункта 2.7
МИ 2440 [31]. Такое исследование может быть проведено на этапах
предварительных исследований или опытной эксплуатации ИС и по-
зволит случае несущественности составляющих) снизить продолжи-
тельность и затраты на контрольные операции при проведении экспе-
риментальных исследований в рамках приѐмо-сдаточных испытаний,
испытаний для целей утверждения типа и проверки соответствия ут-
верждѐнному типу, поверке и калибровке.
Для сложных ИК комплектные методы экспериментального
подтверждения соответствия МХ установленным нормам пока не рег-
ламентированы нормативными документами.
Для проверки сложных ИК может использоваться подход, основан-
ный на имитации выходных сигналов первичных измерительных пре-
образователей (ПИП). Вместо ПИП, МХ которых проверяются отдель-
но, подключаются эталоны, т.е. реализуется “частично комплектная
проверка МХ ИК ИС. При этом в каждой проверяемой точке с помо-
щью эталона поочерѐдно имитируется как минимальное
номmin
xx
, так и максимальное
номmax
xx
значения выходно-
го сигнала каждого ПИП, где
ном
x
номинальное значение выходного
сигнала ПИП, пределы допускаемой погрешности ПИП. Учитывая,
что в сложном ИК используется несколько ПИП, то для каждой из
возможных комбинаций минимальных и максимальных значений эта-
лонов определяют погрешность ИК. За оценку погрешности ИК в про-
веряемой точке принимают максимальное из полученных значений.
   Рекомендуемое количество измерений в проверяемой точке диа-
пазона измерений ИК приведено в таблице 5, составленной на основе
МИ 2440 [31], и зависит от априорных сведений о существенности
случайной составляющей погрешности и вариации.
Таблица 5 – Рекомендуемое количество измерений в точке диапазона измере-
ний ИК
    Составляющие погрешности:                    Рекомендуемое
    случайная           вариация             количество измерений
 Не существенна       Не существенна                    1
 Не существенна        Существенна                      2
   Существенна        Не существенна                   8-10
   Существенна         Существенна                    16-20
При наличии вариации эксперимент осуществляют дважды: сначала при
подходе к проверяемой точке диапазона измерений ИК со стороны меньших,
а затем – со стороны больших значений (или наоборот).
    При отсутствии априорных сведений о существенности состав-
ляющих погрешности целесообразно провести исследование состав-
ляющих погрешности ИК в соответствии с рекомендациями пункта 2.7
МИ 2440 [31]. Такое исследование может быть проведено на этапах
предварительных исследований или опытной эксплуатации ИС и по-
зволит (в случае несущественности составляющих) снизить продолжи-
тельность и затраты на контрольные операции при проведении экспе-
риментальных исследований в рамках приѐмо-сдаточных испытаний,
испытаний для целей утверждения типа и проверки соответствия ут-
верждѐнному типу, поверке и калибровке.
    Для сложных ИК комплектные методы экспериментального
подтверждения соответствия МХ установленным нормам пока не рег-
ламентированы нормативными документами.
    Для проверки сложных ИК может использоваться подход, основан-
ный на имитации выходных сигналов первичных измерительных пре-
образователей (ПИП). Вместо ПИП, МХ которых проверяются отдель-
но, подключаются эталоны, т.е. реализуется “частично комплектная”
проверка МХ ИК ИС. При этом в каждой проверяемой точке с помо-
щью     эталона     поочерѐдно   имитируется   как   минимальное
 xmin xном    , так и максимальное xmax  xном   значения выходно-
го сигнала каждого ПИП, где xном – номинальное значение выходного
сигнала ПИП, – пределы допускаемой погрешности ПИП. Учитывая,
что в сложном ИК используется несколько ПИП, то для каждой из
возможных комбинаций минимальных и максимальных значений эта-
лонов определяют погрешность ИК. За оценку погрешности ИК в про-
веряемой точке принимают максимальное из полученных значений.

                                   38