ВУЗ:
Составители:
38
Рекомендуемое количество измерений в проверяемой точке диа-
пазона измерений ИК приведено в таблице 5, составленной на основе
МИ 2440 [31], и зависит от априорных сведений о существенности
случайной составляющей погрешности и вариации.
Таблица 5 – Рекомендуемое количество измерений в точке диапазона измере-
ний ИК
Составляющие погрешности:
Рекомендуемое
количество измерений
случайная
вариация
Не существенна
Не существенна
1
Не существенна
Существенна
2
Существенна
Не существенна
8-10
Существенна
Существенна
16-20
При наличии вариации эксперимент осуществляют дважды: сначала при
подходе к проверяемой точке диапазона измерений ИК со стороны меньших,
а затем – со стороны больших значений (или наоборот).
При отсутствии априорных сведений о существенности состав-
ляющих погрешности целесообразно провести исследование состав-
ляющих погрешности ИК в соответствии с рекомендациями пункта 2.7
МИ 2440 [31]. Такое исследование может быть проведено на этапах
предварительных исследований или опытной эксплуатации ИС и по-
зволит (в случае несущественности составляющих) снизить продолжи-
тельность и затраты на контрольные операции при проведении экспе-
риментальных исследований в рамках приѐмо-сдаточных испытаний,
испытаний для целей утверждения типа и проверки соответствия ут-
верждѐнному типу, поверке и калибровке.
Для сложных ИК комплектные методы экспериментального
подтверждения соответствия МХ установленным нормам пока не рег-
ламентированы нормативными документами.
Для проверки сложных ИК может использоваться подход, основан-
ный на имитации выходных сигналов первичных измерительных пре-
образователей (ПИП). Вместо ПИП, МХ которых проверяются отдель-
но, подключаются эталоны, т.е. реализуется “частично комплектная”
проверка МХ ИК ИС. При этом в каждой проверяемой точке с помо-
щью эталона поочерѐдно имитируется как минимальное
номmin
xx
, так и максимальное
номmax
xx
значения выходно-
го сигнала каждого ПИП, где
ном
x
– номинальное значение выходного
сигнала ПИП, – пределы допускаемой погрешности ПИП. Учитывая,
что в сложном ИК используется несколько ПИП, то для каждой из
возможных комбинаций минимальных и максимальных значений эта-
лонов определяют погрешность ИК. За оценку погрешности ИК в про-
веряемой точке принимают максимальное из полученных значений.
Рекомендуемое количество измерений в проверяемой точке диа- пазона измерений ИК приведено в таблице 5, составленной на основе МИ 2440 [31], и зависит от априорных сведений о существенности случайной составляющей погрешности и вариации. Таблица 5 – Рекомендуемое количество измерений в точке диапазона измере- ний ИК Составляющие погрешности: Рекомендуемое случайная вариация количество измерений Не существенна Не существенна 1 Не существенна Существенна 2 Существенна Не существенна 8-10 Существенна Существенна 16-20 При наличии вариации эксперимент осуществляют дважды: сначала при подходе к проверяемой точке диапазона измерений ИК со стороны меньших, а затем – со стороны больших значений (или наоборот). При отсутствии априорных сведений о существенности состав- ляющих погрешности целесообразно провести исследование состав- ляющих погрешности ИК в соответствии с рекомендациями пункта 2.7 МИ 2440 [31]. Такое исследование может быть проведено на этапах предварительных исследований или опытной эксплуатации ИС и по- зволит (в случае несущественности составляющих) снизить продолжи- тельность и затраты на контрольные операции при проведении экспе- риментальных исследований в рамках приѐмо-сдаточных испытаний, испытаний для целей утверждения типа и проверки соответствия ут- верждѐнному типу, поверке и калибровке. Для сложных ИК комплектные методы экспериментального подтверждения соответствия МХ установленным нормам пока не рег- ламентированы нормативными документами. Для проверки сложных ИК может использоваться подход, основан- ный на имитации выходных сигналов первичных измерительных пре- образователей (ПИП). Вместо ПИП, МХ которых проверяются отдель- но, подключаются эталоны, т.е. реализуется “частично комплектная” проверка МХ ИК ИС. При этом в каждой проверяемой точке с помо- щью эталона поочерѐдно имитируется как минимальное xmin xном , так и максимальное xmax xном значения выходно- го сигнала каждого ПИП, где xном – номинальное значение выходного сигнала ПИП, – пределы допускаемой погрешности ПИП. Учитывая, что в сложном ИК используется несколько ПИП, то для каждой из возможных комбинаций минимальных и максимальных значений эта- лонов определяют погрешность ИК. За оценку погрешности ИК в про- веряемой точке принимают максимальное из полученных значений. 38
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 36
- 37
- 38
- 39
- 40
- …
- следующая ›
- последняя »