ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
17
22
4
ii
Дx
π
=∆
,
и тогда:
∑
∑
=
=
=
k
i
i
k
i
ii
m
Дmn
F
1
1
2
2
4
π
.
в) Количество зерен (структурных составляющих ) N, приходящихся
на единицу площади:
F
N
1
=
.
2б) Экспресс - методы количественной оценки структуры
а) Метод случайных секущих (метод Салтыкова). Сущность метода
секущих можно проиллюстрировать следующим построением (см . рис.)
На фотографии микроструктуры (с заданным увеличением ) в произ-
вольных направлениях проводят секущие линии длиной L = l·n
0
, где l –
истинная длина секущей линии на шлифе (обычно 1мм); n
0
– линейное
увеличение микроскопа.
Для каждой i-ой секущей подсчитывается число пересечений этой
линии с границами зерен m
i
. Многократное повторение этой операции по -
зволяет определить среднее значение числа пересечений границ зерен
<m>:
17 π 2 ∆xi = 2 Дi 4 , и тогд а: k π 2 n 2 ∑ mi 4 Дi F = i =1 k ∑m i =1 i . в) К оличество зерен (структурн ы х составляю щ их) N, приход ящ ихся н аед ин иц уплощ ад и: 1 N= F . 2б) Э кспресс- метод ы количествен н ой оц ен ки структуры а) М етод случай н ы х секущ их (метод Салты кова). Сущ н ость метод а секущ их мож н о проиллю стрировать след ую щ им построен ием (см. рис.) Н а фотографии микроструктуры (с зад ан н ы м увеличен ием) в произ- воль н ы х н аправлен иях провод ят секущ ие лин ии д лин ой L = l·n0, гд е l – истин н ая д лин а секущ ей лин ии н а ш лифе (обы чн о 1мм); n0 – лин ей н ое увеличен иемикроскопа. Д ля каж д ой i-ой секущ ей под считы вается число пересечен ий этой лин ии сгран иц ами зерен mi. М н огократн оеповторен иеэтой операц ии по- зволяет опред елить сред н ее зн ачен ие числа пересечен ий гран иц зерен:
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 15
- 16
- 17
- 18
- 19
- …
- следующая ›
- последняя »