ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
17
22
4
ii
Дx
π
=∆
,
и тогда:
∑
∑
=
=
=
k
i
i
k
i
ii
m
Дmn
F
1
1
2
2
4
π
.
в) Количество зерен (структурных составляющих ) N, приходящихся
на единицу площади:
F
N
1
=
.
2б) Экспресс - методы количественной оценки структуры
а) Метод случайных секущих (метод Салтыкова). Сущность метода
секущих можно проиллюстрировать следующим построением (см . рис.)
На фотографии микроструктуры (с заданным увеличением ) в произ-
вольных направлениях проводят секущие линии длиной L = l·n
0
, где l –
истинная длина секущей линии на шлифе (обычно 1мм); n
0
– линейное
увеличение микроскопа.
Для каждой i-ой секущей подсчитывается число пересечений этой
линии с границами зерен m
i
. Многократное повторение этой операции по -
зволяет определить среднее значение числа пересечений границ зерен
<m>:
17
π 2
∆xi =
2
Дi
4 ,
и тогд а:
k
π 2
n 2
∑ mi 4
Дi
F = i =1
k
∑m
i =1
i
.
в) К оличество зерен (структурн ы х составляю щ их) N, приход ящ ихся
н аед ин иц уплощ ад и:
1
N=
F .
2б) Э кспресс- метод ы количествен н ой оц ен ки структуры
а) М етод случай н ы х секущ их (метод Салты кова). Сущ н ость метод а
секущ их мож н о проиллю стрировать след ую щ им построен ием (см. рис.)
Н а фотографии микроструктуры (с зад ан н ы м увеличен ием) в произ-
воль н ы х н аправлен иях провод ят секущ ие лин ии д лин ой L = l·n0, гд е l –
истин н ая д лин а секущ ей лин ии н а ш лифе (обы чн о 1мм); n0 – лин ей н ое
увеличен иемикроскопа.
Д ля каж д ой i-ой секущ ей под считы вается число пересечен ий этой
лин ии сгран иц ами зерен mi. М н огократн оеповторен иеэтой операц ии по-
зволяет опред елить сред н ее зн ачен ие числа пересечен ий гран иц зерен
:
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 15
- 16
- 17
- 18
- 19
- …
- следующая ›
- последняя »
