Лабораторные работы по физике металлов. Грибков С.П - 17 стр.

UptoLike

17
22
4
ii
Дx
π
=∆
,
и тогда:
=
=
=
k
i
i
k
i
ii
m
Дmn
F
1
1
2
2
4
π
.
в) Количество зерен (структурных составляющих ) N, приходящихся
на единицу площади:
F
N
1
=
.
2б) Экспресс - методы количественной оценки структуры
а) Метод случайных секущих (метод Салтыкова). Сущность метода
секущих можно проиллюстрировать следующим построением (см . рис.)
На фотографии микроструктуры (с заданным увеличением ) в произ-
вольных направлениях проводят секущие линии длиной L = l·n
0
, где l
истинная длина секущей линии на шлифе (обычно 1мм); n
0
линейное
увеличение микроскопа.
Для каждой i-ой секущей подсчитывается число пересечений этой
линии с границами зерен m
i
. Многократное повторение этой операции по -
зволяет определить среднее значение числа пересечений границ зерен
<m>:
                                        17


                                                 π 2
                              ∆xi =
                                    2
                                                   Дi
                                                 4          ,

и тогд а:
                                             k
                                                        π 2
                                   n    2
                                            ∑ mi        4
                                                          Дi
                            F =             i =1
                                                   k

                                                 ∑m
                                                 i =1
                                                        i
                                                                .

       в) К оличество зерен (структурн ы х составляю щ их) N, приход ящ ихся
н аед ин иц уплощ ад и:
                                                 1
                                   N=
                                                 F      .



         2б) Э кспресс- метод ы количествен н ой оц ен ки структуры
      а) М етод случай н ы х секущ их (метод Салты кова). Сущ н ость метод а
секущ их мож н о проиллю стрировать след ую щ им построен ием (см. рис.)




       Н а фотографии микроструктуры (с зад ан н ы м увеличен ием) в произ-
воль н ы х н аправлен иях провод ят секущ ие лин ии д лин ой L = l·n0, гд е l –
истин н ая д лин а секущ ей лин ии н а ш лифе (обы чн о 1мм); n0 – лин ей н ое
увеличен иемикроскопа.
       Д ля каж д ой i-ой секущ ей под считы вается число пересечен ий этой
лин ии сгран иц ами зерен mi. М н огократн оеповторен иеэтой операц ии по-
зволяет опред елить сред н ее зн ачен ие числа пересечен ий гран иц зерен
: