Основы диэлектрической спектроскопии. Гусев Ю.А. - 100 стр.

UptoLike

Составители: 

100
диэлектрической проницаемости, возможность работы в сверхшироком диапазоне
частот (от 100 кГц до 18 ГГц и более). Благодаря этому, импульсный метод является
незаменимым в задачах динамического анализа изменений диэлектрических свойств в
реальном времени. Он также находит широкое применение при измерении
диэлектрических свойств эмульсий, жидких кристаллов [308], органических и
биологических материалов. Зависимость диэлектрической проницаемости от частоты
получают путем цифровой обработки сигнала, рассматриваемого как зависимость
напряжения или напряженности поля от времени.
Комплексный коэффициент отражения от измерительной ячейки с веществом
определяется по временным сигналам, отраженным от измерительной ячейки и от
опорных объектов. При использовании в качестве опорных объектов
короткозамыкателя и согласованной нагрузки:
[
]
[]
)()(
)()(
0
tиtиF
tиtиF
Г
СНКЗ
СН
+
=
где F[.] - преобразование Фурье; и
о
, и
кз
и и
сн
- сигналы, отраженные от измерительной
ячейки с диэлектриком, короткозамыкателем и согласованной нагрузки соответственно.
Согласованная нагрузка применяется для определения нулевой линии прибора, а
короткозамыкатель для нахождения падающей волны.
Связь диэлектрической проницаемости с коэффициентом отражения определяется
используемой измерительной ячейкой. В зависимости от используемой измерительной
ячейки различают следующие методы измерения диэлектрической проницаемости во
временной области: одного отражения, тонкого образца, концевой емкости. Приближенное
описание метода, вид ячейки и расчетные соотношения для случая, когда волновое
сопротивление измерительной ячейки W = W
o
, где W
o
- волновое сопротивление
подводящего тракта, приведены в таблице 11.
Таблица 11.
Ниже рассмотрены методы измерения диэлектрической проницаемости непроводящих
диэлектриков.
диэлектрической проницаемости, возможность работы в сверхшироком диапазоне
частот (от 100 кГц до 18 ГГц и более). Благодаря этому, импульсный метод является
незаменимым в задачах динамического анализа изменений диэлектрических свойств в
реальном времени. Он также находит широкое применение при измерении
диэлектрических свойств эмульсий, жидких кристаллов [308], органических и
биологических материалов. Зависимость диэлектрической проницаемости от частоты
получают путем цифровой обработки сигнала, рассматриваемого как зависимость
напряжения или напряженности поля от времени.
     Комплексный коэффициент отражения от измерительной ячейки с веществом
определяется по временным сигналам, отраженным от измерительной ячейки и от
опорных объектов. При использовании в качестве опорных объектов
короткозамыкателя и согласованной нагрузки:

                                        F [и0 (t ) − иСН (t )]
                                 Г =−
                                        F [и КЗ (t ) + иСН (t )]

где F[.] - преобразование Фурье; ио, икз и исн - сигналы, отраженные от измерительной
ячейки с диэлектриком, короткозамыкателем и согласованной нагрузки соответственно.
Согласованная нагрузка применяется для определения нулевой линии прибора, а
короткозамыкатель для нахождения падающей волны.
     Связь диэлектрической проницаемости с коэффициентом отражения определяется
используемой измерительной ячейкой. В зависимости от используемой измерительной
ячейки различают следующие методы измерения диэлектрической проницаемости во
временной области: одного отражения, тонкого образца, концевой емкости. Приближенное
описание метода, вид ячейки и расчетные соотношения для случая, когда волновое
сопротивление измерительной ячейки W = Wo, где Wo - волновое сопротивление
подводящего тракта, приведены в таблице 11.
                                                                          Таблица 11.




     Ниже рассмотрены методы измерения диэлектрической проницаемости непроводящих
диэлектриков.




                                                                                  100