Спецпрактикум по сверхвысоким частотам. Гусев Ю.А. - 120 стр.

    Здесь L — оператор обратного преобразования Фурье-Лапласа.
    Соотношение (18) также справедливо, когда образец в линии
рассматривается как секция с распределенными параметрами. В этом случае С0
есть геометрическая емкость единицы длины линии [4-6,20]. Если применять
преобразования Лапласа к обеим сторонам уравнения (3.143) (18), получим спектр
комплексной диэлектрической проницаемости образца:

                                           1 L[I ( t )]
                             ε * (ω ) =
                                          iωZ L[V ( t )] ,    (21)

    где I(t) и V(t) определяются соотношениями (9) и (14).
    Если принять в расчет определение физической длины образца и
многочисленные отражения от поверхностей воздух-диэлектрик и диэлектрик-
воздух, это соотношение принимает вид

                                         C      L[I ( t )]
                          ε * (ω ) =                       xctgx
                                       iω( γd ) L[V ( t )]       , (22)

     где x = ωd ε * (ω ) / C , d— эффективная длина внутреннего проводника линии, γ
- отношение емкости на единицу длины ячейки, заполненной вакуумом, к
погонной емкости согласованного коаксиального кабеля [3,5,6].
     Соотношения (21) и (22) дают возможность определить диэлектрические
характеристики исследуемого образца в виде спектра комплексной
диэлектрической проницаемости ε*(ω).
     Важной особенностью временной спектроскопии диэлектриков является
возможность определить релаксационные характеристики образца прямо во
временной области.
     Таким образом, решая интегральное уравнение, находим величину функции
диэлектрического отклика Ф(t) для метода сосредоточенной емкости.
     Функцию φ(t) = Ф(t) + ε∞ можно связать с функцией макроскопической
дипольной релаксации Г(t) [6,12], которая является основополагающей в теории
линейного отклика.
     Экспериментальная           реализация   метода    временной    спектроскопии
диэлектриков состоит в применении рефлектометра, используемого для
измерения неоднородности коаксиальной линии. Рефлектометр содержит
высокоскоростной генератор ступенчатого напряжения и широкополосную
регистрирующую систему с одно- или двухканальной измерительной ячейкой.
Для улучшения отношения сигнал/шум применяется метод накопления. Кроме
того, необходимо принять меры к стабилизации параметров системы в процессе
измерения [22].
     На рис. 2 приведена принципиальная схема двухканальной системы для
временной спектроскопии диэлектриков, которая позволяет записывать сигналы
от эталонного и измеряемого образцов. Диапазон частот системы составляет 100
кГц—10 ГГц.
     В работе [23] представлены методы увеличения полосы временной