Спецпрактикум по сверхвысоким частотам. Гусев Ю.А. - 122 стр.

                                            Y(ω )
                               ε * (ω ) =
                                            iω C 0 ,         (24)

    где С0 — геометрическая емкость измерительной ячейки без образца.
    Отраженный от образца сигнал rх(t) сравнивается с отраженным от
калиброванного эталонного образца rr(t) сигналом взамен на V(t). Основное
соотношение можно получить, написав уравнение (23) для стандартного и
неизвестного сигнала, в результате которого можно исключить V(ω). В результате
получим

                Yx ( ω ) Yr ( ω )
                        −         =
                                        {
                                    1 − [Y r ( ω ) / G ] ρ ( ω )
                                                              2
                                                                  }
                   G        G        1 + [Y r ( ω ) / G ]ρ ( ω ) .       (25)

    Коэффициент отражения можно получить из равенства

                                       rr ( ω ) − rx ( ω )
                            ρ( ω ) =
                                       rr ( ω ) + rx ( ω )        (26)

    где ε(ω) =Y(ω)/iωС0 заменяется на стандартную и неизвестную полные
проводимости. Рассмотренный подход позволяет решать поставленную задачу.

     Рассмотрим методику измерения параметров диэлектриков во временной
области.
     Радиоволновые методы исследования веществ основаны на анализе
процессов взаимодействия исследуемого объекта и электромагнитного поля.
Данное     взаимодействие    формализуется    материальными      уравнениями
электродинамики. Мнимая часть диэлектрической проницаемости однозначно
определена действительной частью, а действительная часть определяется по
мнимой с точностью до постоянного слагаемого, равного диэлектрической
проницаемости постоянного тока.
     Главным достоинством методов измерения диэлектрической проницаемости
во временной области на основе использования сверхширокополосных
импульсных измерительных сигналов является высокая скорость измерений
спектра диэлектрической проницаемости, возможность работы в сверхшироком
диапазоне частот (от 100 кГц до 18 ГГц и более). Благодаря этому, импульсный
метод является незаменимым в задачах динамического анализа изменений
диэлектрических свойств в реальном времени. Он также находит широкое
применение при измерении диэлектрических свойств эмульсий, жидких
кристаллов [22], органических и биологических материалов. Зависимость
диэлектрической проницаемости от частоты получают путем цифровой обработки
сигнала, рассматриваемого как зависимость напряжения или напряженности поля
от времени.
     Комплексный коэффициент отражения от измерительной ячейки с веществом
определяется по временным сигналам, отраженным от измерительной ячейки и от
опорных объектов. При использовании в качестве опорных объектов