Проектирование СВЧ устройств. Иванов Б.П. - 61 стр.

UptoLike

Составители: 

61
dj
dj
d
d
e
e
β
β
Γ
Γ
=Γ
2
12
2
12
1
&
&
&
,
где
1
1
12
+ε
ε
=Γ
&
коэффициент отражения от поверхности раздела среды
1 и среды 2;
ε
λ
π
=β
0
2
d
фазовая постоянная волны, распространяющейся в
диэлектрике.
Устройства, с помощью которых измеряются значения коэффициента
прохождения t, называются интерферометрами. Устройства, служащие для
измерения коэффициента отражения Γрефлектометрами.
Схема интерферометра в наиболее простом случае имеет вид рис. 7.
Рис. 7. Схема интерферометра
В схеме рефлектометра, показанной на рис. 8, содержится меньше
элементов и устройств, но у нее имеется существенный недостаток, а именно,
при малых значениях диэлектрической проницаемости отражение от листа
диэлектрика незначительное, что значительно увеличивает погрешность
измерений.
Рис. 8. Схема рефлектометра
При измерениях значений ε диэлектриков с малыми потерями в основном
применяется фазовый метод измерений, основанный на том, что при прохож-
дении через диэлектрический лист и при отражении от него изменяется фаза
коэффициента прохождения или фаза коэффициента отражения.