ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
20
M-конверсионные
электроны
14.3
20 нм
≤≤ R
1.5 мкм
KLL Оже-электроны
5.4
7 нм
≤≤ R
200 нм
KLM Оже-электроны
6.2
8 нм
≤≤ R
300 нм
LMM Оже-электроны
0.5
1 нм
≤≤ R
2 нм
Экспериментальные значения, показанные на Рис. 8, получаются в
экспериментах, в которых электронными спектрометрами высокого разрешения
регистрируются электроны, испускаемые распадающимися ядрами
57
Co. Сами ядра
57
Co располагаются в виде тонкого слоя, вплоть до моноатомного, на подходящей
подложке. Эксперимент необходимо осуществлять таким образом, чтобы исключить
образование фотоэлектронов.
Рисунок 9. Спектр электронов (A), полученный от тонкого слоя электроосажденного
источника
57
Co. Сплошной линией (B) показан спектр, полученный после укрытия слоя
57
Co слоем железа 6.2 nm.
Регистрируя различные частицы и различные группы энергий электронов,
можно получать интегральную по глубине информацию от приповерхностных слоев
различной толщины.
2.3. Селективная по глубине МСКЭ (СГМСКЭ): весовые функции
В МСКЭ возможны селективные по глубине исследования в приповерхностной
области толщиной 200-400 нм. За счет того, что потери энергии электронов при
M-конверсионные 14.3 20 нм ≤ R ≤ 1.5 мкм электроны KLL Оже-электроны 5.4 7 нм ≤ R ≤ 200 нм KLM Оже-электроны 6.2 8 нм ≤ R ≤ 300 нм LMM Оже-электроны 0.5 1 нм ≤ R ≤ 2 нм Экспериментальные значения, показанные на Рис. 8, получаются в экспериментах, в которых электронными спектрометрами высокого разрешения регистрируются электроны, испускаемые распадающимися ядрами 57Co. Сами ядра 57 Co располагаются в виде тонкого слоя, вплоть до моноатомного, на подходящей подложке. Эксперимент необходимо осуществлять таким образом, чтобы исключить образование фотоэлектронов. Рисунок 9. Спектр электронов (A), полученный от тонкого слоя электроосажденного источника 57Co. Сплошной линией (B) показан спектр, полученный после укрытия слоя 57 Co слоем железа 6.2 nm. Регистрируя различные частицы и различные группы энергий электронов, можно получать интегральную по глубине информацию от приповерхностных слоев различной толщины. 2.3. Селективная по глубине МСКЭ (СГМСКЭ): весовые функции В МСКЭ возможны селективные по глубине исследования в приповерхностной области толщиной 200-400 нм. За счет того, что потери энергии электронов при 20
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 18
- 19
- 20
- 21
- 22
- …
- следующая ›
- последняя »