Составители:
Рубрика:
56 
нечной ширины служит наклон зеркала в одном из плеч интерферометра на малый угол, в ре-
зультате  чего  разность  хода  между  интерферирующими  полями  изменяется  в  направлении, 
перпендикулярном оси наклона одного зеркала относительно другого.  
Этот способ можно применить и в интерференционном микроскопе. Однако наклон зер-
кала M в  опорном  плече  микроинтерферометра  будет  приводить  не  только  к  смещению  изо-
бражения  вторичного  источника,  даваемого микрообъективом MO2, но  и к растяжению  этого 
изображения в направлении, перпендикулярном оси наклона зеркала M, что приводит к его де-
корреляции по отношению ко вторичному источнику, формируемому микрообъективом MO1 в 
предметном плече интерферометра. Этот процесс можно проиллюстрировать при помощи схе-
мы на рис. 4а, из которой видно, что расстояние между изображениями элементарных источни-
ков dS
1
' и dS
2
' в фокальной плоскости микрообъектива MO2 увеличилось по сравнению с рас-
стоянием между элементарными источниками dS
1
 и dS
2
.  
В соответствии со схемой на рис. 3  это приводит к изменению угла 
θ
, определяющего 
период интерференционной картины. В результате в фокальной плоскости  линзы L3 происхо-
дит  наложение  интерференционных  картин,  имеющих  различный  период  и  результирующая 
а) 
б) 
Рис. 4. Два способа формирования полос конечной ширины в микроинтерферометре:  
а – наклон зеркала в опорном плече интерферометра; dS
1
, dS
2
 – два элементарных источника на поверх-
ности промежуточного источника S на расстоянии r друг от друга, dS
1
', dS
2
' – изображения элементар-
ных источников  dS
1
, dS
2
, соответственно, даваемые микрообъективом MO2 при наклоне зеркала M в 
опорном плече интерферометра, на расстоянии r
1
 >  r друг от друга;  
б – смещение микрообъектива в опорном плече микроинтерферометра с оптической оси; S – промежу-
точное изображение источника, даваемое осветительной системой, S' - изображение вторичного источ-
ника, формируемое микрообъективом MO1 предметного плеча интерферометра, S'' – смещенное изо-
бражение вторичного источника, формируемое смещенным с оптической оси микрообъективом MO2 
опорного плеча интерферометра, M – зеркало. 
А - вид интерференционных полос конечной ширины, 
наблюдаемых  в обоих случаях на выходе микро-
интерферометра. 
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 54
- 55
- 56
- 57
- 58
- …
- следующая ›
- последняя »
