Качественные и полуколичественные методы спектрального анализа. Кавецкая И.В - 23 стр.

или N0 (это соответствует участку кривой, наклоненному под углом 45º).
Дальнейшее увеличение С и N0 сопровождается загибанием кривой роста.
     При рассмотрении спектральной линии в спектральный аппарат изо-
бражение ее контура представляет собой результат наложения двух конту-
ров: инструментального и собственного (распределения интенсивности
линии по длинам волн). Пусть на вход спектрального аппарата, обладаю-
щего конечной шириной щели и конечной разрешающей силой, попадает
спектральная линия, имеющая определенный контур (рис. 2.2, внизу).




Рис. 2.2. Контур спектральной линии на щели спектрального прибора

       Каждая бесконечно узкая полоска, на которые можно разбить пло-
щадь, ограниченную контуром линии, растягивается в полосу с распреде-
лением интенсивности по ширине, соответствующей инструментальному
контуру (рис. 2.2, вверху). Получаем вверху кривые a, b, c, d…, соответст-
вующие участкам спектральной линии, отмеченным соответствующими
точками a’, b’, c’, d’… на контуре линии внизу. На рисунке изображены
только кривые, соответствующие правой части контура линии (для левой
части все строится аналогично). Изображение линии на спектрограмме
представится тогда результирующей кривой, изображенной жирной линией.
       Пусть теперь концентрация излучающих атомов в источнике рас-
тет. При малых значениях N0, когда самопоглощением можно пренебречь,

                                    23