ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
7
Для реально достижимых напряженностей внешнего электрического
поля Е ~ 10
6
B/см изменение высоты потенциального барьера может
составить Е ~ 0.1 эВ.
Изменение зарядового состояния атомов в кристаллах под
действием оптического возбуждения, инжекции носителей заряда,
легирования, изменения температуры и т. д. может сопровождаться
изменением геометрического положения равновесия в решетке (узел,
междоузлие и др.) или образованием комплексов, что в конечном итоге
приводит к изменению скорости миграции атома (рис. б)). В этом случае
энергия активации диффузии может уменьшиться на энергию ионизации
примесного атома.
Третий механизм диффузии связан с передачей энергии, выделяемой
при безызлучательной рекомбинации (рис. в)). Уменьшение высоты
потенциального барьера для миграции в этом случае равно разности
энергий атома в начальном и конечном, с захваченным на него электроном
состояниях.
Четвертый механизм фотостимулированной миграции состоит в
возбуждении колебаний атомов электромагнитным излучением в
результате ИК поглощения, т. е. в передаче энергии от фотона фонону
через промежуточные состояния.
Вторая часть курса посвящена описанию метода
фотостимулированной вспышки люминесценции (ФСВЛ), который
успешно применяется на кафедре оптики и спектроскопии для
исследования электронной структуры широкозонных кристаллофосфоров,
а также для изучения процессов перестройки этой структуры под
воздействием излучения.
Часть 1. Фотохимические реакции
1.1. Различные проявления ФХР и их основные свойства
Термоактивационный характер
Все ФХР являются, как правило, термоактивационными процессами.
Это означает, что скорость протекания ФХР (т. е. скорость изменения той
или иной характеристики кристалла при освещении) уменьшается с
понижением температуры засветки Т
з
и наоборот. Параметром,
характеризующим термоактивационность процесса, является энергия
активации Е
а
.
Энергия активации ФХР Е
а
может иметь различную природу. Она
может представлять собой:
– Е
ар
– энергию активации разрушения комплексов дефектов;
– Е
ад
– энергию активации диффузии простых дефектов;
– Е
ам
– энергию активации миграции дефектов;
Для реально достижимых напряженностей внешнего электрического поля Е ~ 106 B/см изменение высоты потенциального барьера может составить Е ~ 0.1 эВ. Изменение зарядового состояния атомов в кристаллах под действием оптического возбуждения, инжекции носителей заряда, легирования, изменения температуры и т. д. может сопровождаться изменением геометрического положения равновесия в решетке (узел, междоузлие и др.) или образованием комплексов, что в конечном итоге приводит к изменению скорости миграции атома (рис. б)). В этом случае энергия активации диффузии может уменьшиться на энергию ионизации примесного атома. Третий механизм диффузии связан с передачей энергии, выделяемой при безызлучательной рекомбинации (рис. в)). Уменьшение высоты потенциального барьера для миграции в этом случае равно разности энергий атома в начальном и конечном, с захваченным на него электроном состояниях. Четвертый механизм фотостимулированной миграции состоит в возбуждении колебаний атомов электромагнитным излучением в результате ИК поглощения, т. е. в передаче энергии от фотона фонону через промежуточные состояния. Вторая часть курса посвящена описанию метода фотостимулированной вспышки люминесценции (ФСВЛ), который успешно применяется на кафедре оптики и спектроскопии для исследования электронной структуры широкозонных кристаллофосфоров, а также для изучения процессов перестройки этой структуры под воздействием излучения. Часть 1. Фотохимические реакции 1.1. Различные проявления ФХР и их основные свойства Термоактивационный характер Все ФХР являются, как правило, термоактивационными процессами. Это означает, что скорость протекания ФХР (т. е. скорость изменения той или иной характеристики кристалла при освещении) уменьшается с понижением температуры засветки Тз и наоборот. Параметром, характеризующим термоактивационность процесса, является энергия активации Еа . Энергия активации ФХР Еа может иметь различную природу. Она может представлять собой: – Еар – энергию активации разрушения комплексов дефектов; – Еад – энергию активации диффузии простых дефектов; – Еам – энергию активации миграции дефектов; 7
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 5
- 6
- 7
- 8
- 9
- …
- следующая ›
- последняя »