Проектирование, изготовление и исследование интерференционных покрытий. Котликов Е.Н - 43 стр.

UptoLike

Рубрика: 

43
(ВНВВН2ВНВ…..ВНВ). В первом случае зеркало содержит нечётное число
слоёв, во втором чётное. 2Н или 2В полуволновые слои, для которых
матрица интерференции на длине волны λ
0
отрицательно определенная
единичная матрица. Воспользуемся правилом скобок при определении
матричного произведения. Расставим скобки следующим образом:
для первого случая - (В(Н(В….(В(Н(В2НВ)Н)В)…В)Н)В),
для второго случая - (В(Н(В….(Н(В(Н2ВН)В)Н)…В)Н)В).
Вычислим матрицы интерференции в центральных скобках. (В2НВ) или
(Н2ВН) единичная матрица. Далее, с учётом этого, вычислим произведение в
следующих скобках Н(В2НВ)Н или В(Н2ВН)В. Это отрицательная единичная
матрица и т.д. Если число слоёв составляющих интерференционных
светофильтр зеркал одинаково, то в результате мы получим отрицательно или
положительно определённую единичную матрицу. В случае если число слоёв
составляющих зеркал неодинаково, матрицы интерференции системы будет
определяться четвертьволновым зеркалом, у которого число слоёв равно
разности числа слоёв зеркал.
В первом случае пропускание светофильтра на длине волны λ=λ
0
равно
пропусканию подложки, во втором случае пропусканию четвертьволнового
зеркала, число слоёв которого равно разности числа слоёв образующих
светофильтр зеркал.
Оценим спектральную полуширину светофильтра. По определению,
полуширина это спектральная ширина фильтра на уровне 0,5T
max
.
Рис. 1.17. Спектральная зависимость коэффициента пропускания
интерференционного светофильтра
Очевидно, что величина половины максимального пропускания будет равна
Т
λ
Т
max
½Т
ma
T
min
δλ
0.5