Излучение возбужденных поверхностей. Кубанов В.П. - 15 стр.

UptoLike

Составители: 

15
Для примера рассчитаем нормированные характеристики направленно-
сти для квадратной (𝑎= 𝑏) плоской синфазно возбужденной поверхности при
изменении амплитуд возбуждения вдоль осей 𝑋 и 𝑌 так, как это показано на
рис. 1.6. Нормированные амплитудные диаграммы направленности, построен-
ные по результатам расчетов, приведены на рис. 1.6. Обратим внимание на то,
что реальная амплитудная диаграмма направленности симметрична относи-
тельно оси ординат ( 𝜃= 0). Это свойство позволяет ограничиться рассмотре-
нием части диаграммы.
Рис. 1.7
Из сравнения амплитудных диаграмм направленности следует, что при
переходе от равномерного амплитудного распределения (плоскость 𝑋𝑂𝑍) к
распределению, спадающему к краям излучающей поверхности по закону ко-
синуса (плоскость 𝑌𝑂𝑍), ширина амплитудной диаграммы направленности в
соответствующей плоскости заметно увеличивается. Одновременно с расшире-
нием главного лепестка амплитудной диаграммы направленности уменьшается
уровень боковых лепестков.
Обобщая полученные результаты и применяя их к другим амплитудным
распределениям, можно установить следующее: чем резче спадает амплитуда
возбуждающего поля к краям излучающей поверхности, тем шире главный ле-
песток амплитудной диаграммы направленности и тем меньше уровень боко-
вых лепестков. Данное свойство излучающих поверхностей находит широкое
практическое применение. Так, в тех случаях, когда требуются амплитудные
диаграммы направленности с низким уровнем боковых лепестков, добиваются
резко спадающего к краям антенны амплитудного распределения. Правда, при
0 3 6 9 12 15 18 21 24 27 30 33 36 39 42 45
0
0.125
0.25
0.375
0.5
0.625
0.75
0.875
1
i
i
180
i
)(
F
YOZ
XOZ
      Для примера рассчитаем нормированные характеристики направленно-
сти для квадратной (𝑎 = 𝑏) плоской синфазно возбужденной поверхности при
изменении амплитуд возбуждения вдоль осей 𝑋 и 𝑌 так, как это показано на
рис. 1.6. Нормированные амплитудные диаграммы направленности, построен-
ные по результатам расчетов, приведены на рис. 1.6. Обратим внимание на то,
что реальная амплитудная диаграмма направленности симметрична относи-
тельно оси ординат ( 𝜃 = 0). Это свойство позволяет ограничиться рассмотре-
нием части диаграммы.

                         1
                      0.875
                       0.75

            F (i )
                     0.625                        YOZ
                        0.5
              
                  i   0.375
                       0.25
                      0.125     XOZ
                                                                            
                         0
                              0 3 6 9 12 15 18 21 24 27 30 33 36 39 42 45
                                                   180
                                                           i
                                                     

                                           Рис. 1.7

     Из сравнения амплитудных диаграмм направленности следует, что при
переходе от равномерного амплитудного распределения (плоскость 𝑋𝑂𝑍) к
распределению, спадающему к краям излучающей поверхности по закону ко-
синуса (плоскость 𝑌𝑂𝑍), ширина амплитудной диаграммы направленности в
соответствующей плоскости заметно увеличивается. Одновременно с расшире-
нием главного лепестка амплитудной диаграммы направленности уменьшается
уровень боковых лепестков.
     Обобщая полученные результаты и применяя их к другим амплитудным
распределениям, можно установить следующее: чем резче спадает амплитуда
возбуждающего поля к краям излучающей поверхности, тем шире главный ле-
песток амплитудной диаграммы направленности и тем меньше уровень боко-
вых лепестков. Данное свойство излучающих поверхностей находит широкое
практическое применение. Так, в тех случаях, когда требуются амплитудные
диаграммы направленности с низким уровнем боковых лепестков, добиваются
резко спадающего к краям антенны амплитудного распределения. Правда, при

                                              15