Порошковая дифрактометрия в материаловедении. Часть I. Кузьмичева Г.М. - 23 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

МИРЭА | Москва

Составители: 

Рубрика: 

и ( l) ву отражения
исследуемого соединения или труктурного ему необходимо
Database и CCDC -
(м )
н
вен я , , β -
для ко
ы
использованием
-по
номеру соответствующ арточки (например, номер
ракционных отражений в порядке убывания
имеют межплоскостные расстояния d,Å =2.91 Å,
(с т стандра
ом случае это интенсивное отражение входит
х
-45-
плоскост hk , а соответст ющие им обозначаются
индексами без скобок hkl. В дальнейшем дифракционные
символы будут обозначаться в виде hkl.
Для определения индексов дифракционных отражений
изос
воспользоваться имеющимися базами данных: ICDD –
International Centre of Diffraction Data (порошковая база данных),
ICSD – Inorganic Crystal Structure
онокристальные базы данных , а также оригинальными
работами. В этих
источниках или приведены
рентгенометрические дан ые (I,%-интенсивность
дифакционных отражений, 2θ° - угол дифракции либо d,Å –
межплоскостные расстояния, HKL –символы дифракционных
отражений в дальнейшем обозначаемые как hkl), пр.гр.-
пространст на группа a, b, c, α , γ параметры
элементарной ячейки) нкретных соединений (порошковая
база данных PDF-2), или рентгенометрические данные (I,%-
интенсивность дифакционных отражений, 2θ° - угол
дифракции
либо d,Å – межплоскостные расстояния, hkl –символы
дифракционных отражений) могут б ть рассчитаны с
использованием структурных данных: параметров элементарной
ячейки, пространственной группы, координатов атомов
(монокристальные базы данных ICSD/ RETRIEVE или CCDC).
-46-
•Метод индицирования с базы данных.
Поиск необходимых рентгенометрических данных вещества с
использованием порошковой базы данных может проводиться
разными способами:
ей к
карточки 40-0002 описывает рентгенометрические данные
La
2
MnO
4.15
);
-по названию соединения (например, uric acid – мочевая
кислота);
-по химической формуле. Для конкретного соединения
значения межплоскостных расстояний даны для трех самых
сильных диф
(например, для фазы La
2
MnO
4.15
три самых сильных
отражения
3.78 Å, 2.82 Å).
-по значениям межплоскостных расстояний для восьми
наиболее сильных отражений;
-по межплоскостному расстоянию уче ом тного
отклонения) самого сильного (I=100%) дифракционного
отражения. В эт
в тройку сильны дифракционных отражений. 
                                   -45-                                                                     -46-
плоскости (hkl), а соответствующие им отражения обозначаются                   •Метод индицирования с использованием базы данных.
индексами без скобок hkl. В дальнейшем дифракционные                         Поиск необходимых рентгенометрических данных вещества с
символы будут обозначаться в виде hkl.                                       использованием порошковой базы данных может проводиться
  Для     определения     индексов        дифракционных         отражений    разными способами:
исследуемого соединения или изоструктурного ему необходимо                     -по номеру соответствующей карточки (например, номер
воспользоваться       имеющимися          базами     данных:     ICDD    –     карточки 40-0002 описывает рентгенометрические данные
International Centre of Diffraction Data (порошковая база данных),             La2MnO4.15);
ICSD – Inorganic Crystal Structure Database и CCDC -                           -по названию соединения (например, uric acid – мочевая
(монокристальные базы данных),               а также оригинальными             кислота);
работами.       В      этих    источниках             или       приведены      -по химической формуле. Для конкретного соединения
рентгенометрические            данные                (I,%-интенсивность        значения межплоскостных расстояний даны для трех самых
дифакционных отражений, 2θ° - угол дифракции либо d,Å –                        сильных дифракционных отражений в порядке убывания
межплоскостные расстояния, HKL –символы дифракционных                          (например,     для   фазы   La2MnO4.15 три   самых   сильных
отражений в дальнейшем обозначаемые как hkl), пр.гр.-                          отражения имеют межплоскостные расстояния d,Å =2.91 Å,
пространственная группа, a, b, c, α, β, γ - параметры                          3.78 Å, 2.82 Å).
элементарной ячейки) для конкретных соединений (порошковая                     -по значениям межплоскостных расстояний для восьми
база данных PDF-2), или рентгенометрические данные (I,%-                       наиболее сильных отражений;
интенсивность дифакционных отражений, 2θ° - угол дифракции                     -по межплоскостному расстоянию (с учетом стандратного
либо    d,Å –       межплоскостные        расстояния,       hkl –символы       отклонения) самого сильного (I=100%) дифракционного
дифракционных         отражений)     могут         быть     рассчитаны   с     отражения. В этом случае это интенсивное отражение входит
использованием структурных данных: параметров элементарной                     в тройку сильных дифракционных отражений.
ячейки,     пространственной        группы,        координатов     атомов
(монокристальные базы данных ICSD/ RETRIEVE или CCDC).

Страницы