Качественный рентгенофазовый анализ. Кузнецова Г.А. - 8 стр.

                В качестве единицы измерения длины волны рентгеновского излучения,
            межплоскостных     расстояний  и    параметров  элементарных   ячеек   в
            рентгеноструктурном анализе используется внесистемная единица - ангстрем
               o
            (1 A = 0,1 нм =10 −8 см) . Использование этой единицы измерения обусловлено тем,
            что:
            •      в ангстремах указаны величины дифракционных спектров справочных
            стандартов во всех базах данных;
            •      в публикациях Международного союза кристаллографов такие данные
            приводятся в ангстремах;
            •      в подавляющем большинстве справочников и аналогичных им изданий по
            физике, химии и кристаллографии величины атомного и субатомного порядка
            определены также в ангстремах. Наконец, использование нанометров вместо
            ангстремов приводит к значительному увеличению объема печатной продукции.
                  В качестве примечания необходимо отметить, что все данные о длинах волн
            или межплоскостных расстояниях в кристаллах, приводившиеся в литературе до
            1947 г., обозначались ангстремами, но на самом, деле это килоиксы. Килоикс (кХ) -
                                                                                   o
            это экспериментально найденная условная величина. 1kX = 1,00202 A .

                            3.Сущность метода рентгеновского фазового анализа
                                          В методе РФА, использующем явление дифракции
                                     рентгеновских лучей на кристаллической решетке,
                                     применяется излучение с длиной волны λ порядка
                                     величины межатомных расстояний в кристалле. Если
                                     любая точка (узел) кристаллической решетки способна
                                     рассеивать падающее рентгеновское излучение, то при
                                     определенных условиях между волнами, рассеянными
               Рис . 1. Схема        отдельными электронами за счет разности фаз,
               "отражения”           возникает суммарная амплитуда рассеяния атомами.
               рентгеновских         Для      нахождения       условий      возникновения
               лучей от атомных      дифракционных      максимумов     кристалл     можно
               плоскостей.           представить       совокупностью         параллельных,
                                     равноотстоящих друг от друга атомных плоскостей,
                                     ориентация которых в кристалле задается индексами
            (hkl ) .  В кристаллической решетке систему параллельных плоскостей можно
            проводить различным образом. Системам таких плоскостей будут соответствовать
            определенные расстояния между соседними плоскостями d (hkl ) – межплоскостные
            расстояния. Пусть на одну из таких систем падает под углом θ рентгеновский
            луч. Он будет свободно проходить через одноатомный слой и частично отразится
            под тем же углом θ . Волны, «отраженные» разными плоскостями (рис. 1),
            взаимодействуют между собой - интерферируют. Результирующая интерференции
            когерентных волн определяется их амплитудами и относительными фазами.
            Амплитуды волн, «отраженных» плоскостями одной серии, можно считать
            одинаковыми, если пренебречь ослаблением рентгеновского излучения при его
            проникновении в глубь кристалла. Относительные фазы волн зависят от величины
            межплоскостного расстояния d (hkl ) и угла падения-«отражения» луча θ . Так



PDF created with FinePrint pdfFactory Pro trial version http://www.fineprint.com