Ренгенография в неорганической нанохимии. Лаврушина С.С - 16 стр.

UptoLike

16
стержень . Его торцевая поверхность совпадает с плоскостью образца. При
облучении пробы рентгеновским пучком этот стержень дает несколько
интенсивных линий и таким образом является эталоном, внешним по
отношению к пробе. Предварительная калибровка и получение графических
зависимостей проводятся так же, как в методе внутреннего эталона. За счет
исключения процедуры взвешивания и перемешивания веществ пробы и
эталона сокращается время на анализ каждого образца.
К недостаткам метода относятся ограниченный выбор веществ
эталонов, необходимость переделки держателя образца, возможность
окисления эталона и изменение его отражающей способности . Абсолютная
погрешность определения концентраций отдельных фаз данным методом 2-
3%. Методы внутреннего и внешнего стандартов используются наиболее
часто . С остальными методами можно ознакомиться в [2].
ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПАРАМЕТРА ЭЛЕМЕНТАРНОЙ ЯЧЕЙКИ
Неточность в определении d, обусловленная поглощением и другими
причинами [2], уменьшается с увеличением θ. Кроме того при одной и той
же ошибке в определении угла θ точность определения межплоскостного
расстояния также увеличивается с ростом θ. Это легко показать ,
продифференцировав уравнение Брега- Вульфа:
|Δ d /d | = | ctg θ
.
Δ θ|. (9)
Согласно (9), Δd стремится к 0, если θ 90
0
. Погрешность
определения параметра а в случае кубического кристалла оценивают по
формуле
| Δa | = |a ctg θ
.
Δ θ | (10)
(здесь погрешность Δθ выражают в радианах). Таким образом, для
получения более точных значений межплоскостных расстояний необходимо
использовать линии с большими углами отражения. Большинство
систематических отклонений также уменьшается с увеличением углов.
Расчет а ведут согласно формуле (11) по нескольким четким линиям с θ
> 70°:
а = d
N
, (11)
где N = h
2
+ k
2
+ l
2
целые числа.
При прецизионных определениях подбирают рентгеновское излучение
таким образом, чтобы в области углов отражения 70-80
0
оказалось
необходимое число дифракционных линий для определения параметров; в
этом случае дублеты α
1
и α
2
отчетливо разрешаются . Измеряют положение
линий α
1.
Абсолютная погрешность определения параметра некубической
ячейки является функцией следующих переменных:
Δа
= f(θ
i
, Δ θ
i
,a
,h
i
k
i
l
i
), (12)
где а
есть a, b, c, α, β, γ. Предельная абсолютная погрешность
определения функции приближенно равна ее дифференциалу и для
                                     16
стержень. Его торцевая поверхность совпадает с плоскостью образца. При
облучении пробы рентгеновским пучком этот стержень дает несколько
интенсивных линий и таким образом является эталоном, внешним по
отношению к пробе. Предварительная калибровка и получение графических
зависимостей проводятся так же, как в методе внутреннего эталона. За счет
исключения процедуры взвешивания и перемешивания веществ пробы и
эталона сокращается время на анализ каждого образца.
     К недостаткам метода относятся ограниченный выбор веществ
эталонов, необходимость переделки держателя образца, возможность
окисления эталона и изменение его отражающей способности. Абсолютная
погрешность определения концентраций отдельных фаз данным методом 2-
3%. Методы внутреннего и внешнего стандартов используются наиболее
часто. С остальными методами можно ознакомиться в [2].

             ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПАРАМЕТРА ЭЛЕМЕНТАРНОЙ ЯЧЕЙКИ
     Неточность в определении d, обусловленная поглощением и другими
причинами [2], уменьшается с увеличением θ. Кроме того при одной и той
же ошибке в определении угла θ точность определения межплоскостного
расстояния также увеличивается с ростом θ. Это легко показать,
продифференцировав уравнение Брега-Вульфа:
                            |Δ d /d | = | ctg θ . Δ θ|.             (9)
     Согласно (9), Δd стремится к 0, если θ → 900. Погрешность
определения параметра а в случае кубического кристалла оценивают по
формуле
                              | Δa | = |a ctg θ. Δ θ |           (10)
      (здесь погрешность Δθ выражают в радианах). Таким образом, для
получения более точных значений межплоскостных расстояний необходимо
использовать линии с большими углами отражения. Большинство
систематических отклонений также уменьшается с увеличением углов.
      Расчет а ведут согласно формуле (11) по нескольким четким линиям с θ
> 70°:
                                   а=d N,                       (11)
     где N = h + k + l – целые числа.
               2   2   2

     При прецизионных определениях подбирают рентгеновское излучение
таким образом, чтобы в области углов отражения 70-800 оказалось
необходимое число дифракционных линий для определения параметров; в
этом случае дублеты α1 и α2 отчетливо разрешаются. Измеряют положение
линий α1.
     Абсолютная погрешность определения параметра некубической
ячейки является функцией следующих переменных:
                             Δа’ = f(θi, Δ θi,a’,hikili),         (12)
           ’
     где а – есть a, b, c, α, β, γ. Предельная абсолютная погрешность
определения функции приближенно равна ее дифференциалу и для