Ренгенография в неорганической нанохимии. Лаврушина С.С - 20 стр.

UptoLike

20
откуда L =
2
1
)2(cos θθ
λ
∆⋅
, (18)
где L размер кристаллита в направлении нормали к отражающей
плоскости ; Δ (2θ)
1/2
- полуширина линии (
2
1
β
), которая измеряется на половине
высоты .
                                      20
                                            λ
     откуда                      L=                   ,             (18)
                                      cosθ ⋅ ∆(2θ ) 1
                                                    2

     где L – размер кристаллита в направлении нормали к отражающей
плоскости; Δ (2θ)1/2 - полуширина линии ( β1 ), которая измеряется на половине
                                             2

высоты.