ВУЗ:
Составители:
76
4.3. Расчет оптически толстых слоев
Изложенная методика имеет определенные сложности при работе с
толстыми слоями. При прохождении волны через толстый слой в
последнем возникают многократные отражения света, что приводит к
набегу фаз большему, чем длина когерентности света
l
. Такие колебания
в реальной оптической системе не наблюдаются, что связано со
смазыванием интерференционной картины. Можно считать также, что
точность измерительного прибора (например, спектрофотометра) ниже
периода этих колебаний и поэтому при измерениях эти колебания
усредняются.
Значительная толщина подложки (по сравнению с длиной волны),
вызывает существенные колебания выходного рассчитанного спектра
(отражения и пропускания). Для приведения в соответствие измеряемых
данных и расчетов необходимо внести усреднение в расчет
результирующих спектров.
Подобное усреднение выполняется на случайной сетке по диапазону
, определяемому обычно используемой для спектрофотометров длиной
когерентности света:
2
/l
.
4.4. Изотропные пленки
Для изотропных материалов пропускание и отражение могут быть
описаны более простыми уравнениями по сравнению с приближением 4х4.
Несмотря на это, решение в рамках общего алгоритма бывает полезно и
часто продиктовано необходимостью единого подхода к решению задачи о
пропускании и/или отражении света при наличии в многослойной
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 74
- 75
- 76
- 77
- 78
- …
- следующая ›
- последняя »
