Математическое моделирование и методы расчета оптических наноструктур. Ловецкий К.П - 75 стр.

UptoLike

75
, , ,
T
I x x x y y y
E r E E r E
вектор падающей волны,
, , ,
T
R x x x y y y
R r R R r R
вектор отраженной волны,
**
, , ,
T
T x x x y y y
T r T T r T
вектор прошедшей волны,
**
12
1 1 2 2
12
, cos , , cos
cos cos
x y x y
nn
r r n r r n


.
Здесь
1
n
и
2
n
действительные коэффициенты преломления
изотропных входной и выходной сред;
1
и
2
углы светового луча во
входной и выходной средах. Между параметрами
i
n
и
i
выполняется
соотношение (закон Снеллиуса)
1 1 2 2
sin sinnn

.
Заметим, что приведенное выше представление векторов
I
,
,
справедливо только для изотропных сред, где имеет место однозначная
связь между компонентами напряженностей электрического и магнитного
полей. Поэтому далее считаем, что входная и выходная среды изотропны.
Решение системы (4.17) сводится к решению линейной
алгебраической системы уравнений 2х2, которая, к сожалению, может
быть вырождена. Для решения данной системы применяется
регуляризованный устойчивый метод, работающий при любых входных
данных.
Найденные комплексные значения амплитуд
, , ,
x y x y
T T R R
служат
основой для вычисления основных параметров для отраженного и
прошедшего лучей: коэффициентов отражения и пропускания, векторов
Стокса, степени деполяризации и многих других параметров. В частности,
коэффициенты отражения и пропускания окончательно вычисляются по
формулам:
22
22
21
22
22
22
11
11
/cos /cos
cos
,
cos
/cos /cos
x y x y
x y x y
T T R R
n
TR
n
E E E E





.