Проектирование микросхем и микропроцессоров. Макарчук М.В - 15 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ТГТУ | Тамбов

Составители: 

Рубрика: 

Содержание отчёта
1. Результаты измерений ёмкости и геометрических размеров конденсаторов.
2. Результаты расчётов.
3. Графики зависимости относительных погрешностей ёмкости, полезной площади и удельной ёмкости от номинала.
Контрольные вопросы
1.
Какие факторы влияют на величину абсолютной погрешности удельной ёмкости?
2.
Почему геометрические размеры верхней обкладки плёночных конденсаторов меньше геометрических размеров
нижней обкладки?
3.
Какими путями может быть уменьшено влияние несовмещения масок на разброс ёмкости?
4.
Объясните характер зависимости относительной погрешности ёмкости пленочного конденсатора от его номинала.
Список рекомендуемой литературы
1. Черняев, В.Н. Технология производства интегральных микросхем / В.Н. Черняев. – М. : Энергия, 1977.

Страницы