ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
21
замороженный объект механическим способом скалывается охлажденным
ножом. При этом обнажаются внутренние зоны замороженных клеток. В
вакууме часть воды, перешедшей в стекловидную форму, возгоняется
(«травление»), а поверхность скола последовательно покрывается тонким
слоем испаренного углерода, а затем металла. Таким образом с заморо-
женного и сохраняющего прижизненную структуру материала получают
реплику с его скола (рисунок 6). Затем уже в условиях комнатной темпера-
туры ткань или клетки растворяют в кислотах , но пленка- реплика при этом
остается цела, ее изучают в электронном микроскопе.
Другие типы электронных микроскопов .
Высоковольтный (мегавольтный) электронный микроскоп .
Проникающая способность электронов увеличивается в результате увели-
чения их скорости под действием очень высокого напряжения. (от 1 до 3
млн вольт). Сконструированные на этой основе приборы являются очень
крупногабаритными и дорогостоящими, что сдерживает их широкое при-
менение. Преимущество высоковольтных электронных микроскопов со-
стоит не в том, что на них можно получить более высокое разрешение (при
более короткой длине волны электронов), а в том, что при высокой энер-
гии электронов, которые меньше поглощаются объектом , можно просмат -
ривать образцы большой толщины (1-10 мкм против 0,1 мкм обычным
электронным микроскопом). Дополнительное использование сте -
реоскопической съемки позволяет получить информацию о трехмерной
организации внутриклеточных структур с высоким их разрешением (около
0,5 нм).
Сканирующий (растровый) электронный микроскоп . Как свето-
вой , так и электронный трансмиссионный микроскоп дают двумерное
(плоское ) изображение. Сканирующий электронный микроскоп позволяет
изучать трехмерную (объемную ) картину поверхности клетки . При скани-
рующей электронной микроскопии пучок электронов отражается от образ -
ца, а не проникает через него. С помощью данного метода изучают по-
верхность объекта (например, поверхность пыльцевых зерен). Фиксиро-
ванный и специальным образом высушенный объект покрывается тонким
слоем испаренного металла (золота, платины, алюминия), отражаясь от ко-
торого электроны попадают в приемное устройство, передающее сигнал на
Рисунок 6. Схема метода замора-
живания-скалывания: а - скалыва-
ние замороженного объекта; б— на-
пыление слоя металла и углерода на
поверхность скола; в —
растворение
объекта и получение реплики с по-
верхности скола объекта. 1— нож.
21 замороже нный объ е кт ме ханиче с ким с пос обом с кал ывае тс я охл ажде нным ножом. П ри этом обнажаю тс я внутре нние зоны замороже нных кл е ток. В вакууме час ть воды, пе ре ш е дш е й в с те кл овидную форму, возгоняе тс я («травл е ние »), а пове рхнос ть с кол а пос л е довате л ь но покрывае тс я тонким с л ое м ис паре нного угл е рода, а зате м ме тал л а. Таким образом с заморо- же нного и с охраняю щ е го прижизне нную с труктуру мате риал а пол учаю т ре пл ику с е го с кол а(рис унок 6). Зате м уже в ус л овиях комнатной те мпе ра- туры ткань ил и кл е тки рас творяю т в кис л отах, но пл е нка-ре пл икапри этом ос тае тс яце л а, ее изучаю т в эл е ктронном микрос копе . Р ис унок 6. Схе ма ме тода замора- живания-с кал ывания: а - с кал ыва- ние замороже нного объ е кта; б— на- пыл е ние с л оя ме тал л аи угл е родана пове рхнос ть с кол а; в — рас творе ние объ е кта и пол уче ние ре пл ики с по- ве рхнос ти с кол аобъ е кта. 1— нож. Др угиет ип ы э л ект р он н ы х м икр ос коп ов . В ы с оков ол ьт н ы й (м егав ол ьт н ы й) эл ект р он н ы й м икр ос коп . П роникаю щ ая с пос обнос ть эл е ктронов уве л ичивае тс я в ре зул ь тате уве л и- че ния их с корос ти под де й с твие м оче нь выс окого напряже ния. (от 1 до 3 мл н вол ь т). Сконс труированные на этой ос нове приборы явл яю тс я оче нь крупногабаритными и дорогос тоящ ими, что с де рживае т их ш ирокое при- ме не ние . П ре имущ е с тво выс оковол ь тных эл е ктронных микрос копов с о- с тоит не в том, что наних можно пол учить бол е е выс окое разре ш е ние (при бол е е короткой дл ине вол ны эл е ктронов), ав том, что при выс окой эне р- гии эл е ктронов, которые ме нь ш е погл ощ аю тс я объ е ктом, можно прос мат- ривать образцы бол ь ш ой тол щ ины (1-10 мкм против 0,1 мкм обычным эл е ктронным микрос копом). Д опол ните л ь ное ис пол ь зование с те - ре ос копиче с кой с ъ е мки позвол яе т пол учить информацию о тре хме рной организации внутрикл е точных с труктур с выс оким их разре ш е ние м (окол о 0,5 нм). С кан ир ую щ ий (р ас т р ов ы й) э л ект р он н ы й м икр ос коп . Как с ве то- вой , так и эл е ктронный транс мис с ионный микрос коп даю т двуме рное (пл ос кое ) изображе ние . Сканирую щ ий эл е ктронный микрос коп позвол яе т изучать тре хме рную (объ е мную ) картину пове рхнос ти кл е тки. П ри с кани- рую щ е й эл е ктронной микрос копии пучок эл е ктронов отражае тс яот образ- ца, а не проникае т че ре з не го. С помощ ь ю данного ме тода изучаю т по- ве рхнос ть объ е кта (наприме р, пове рхнос ть пыл ь це вых зе ре н). Ф икс иро- ванный и с пе циал ь ным образом выс уш е нный объ е кт покрывае тс я тонким с л ое м ис паре нного ме тал л а(зол ота, пл атины, ал ю миния), отражаяс ь от ко- торого эл е ктроны попадаю т в прие мное ус трой с тво, пе ре даю щ е е с игнал на
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 19
- 20
- 21
- 22
- 23
- …
- следующая ›
- последняя »