Синхротронное излучение в спектроскопии. Михайлин В.В. - 130 стр.

структурного разупорядочения; λ — длина свободного
пробега фотоэлектрона.
   При поглощении рентгеновского фотона атомом [см.
(3.1)] образуется упругий фотоэлектрон. В дипольном при-
ближении вероятность фотопоглощения определяется
уравнением
    ω ~ ∑ |< f k | εr | ϕi >|2 δ ( Ei − Ek − ω ).   (3.2)
        k
   Для рассматриваемой в EXAFS-спектроскопии области
энергий плотность конечных состояний описывается глад-
кой функцией, осцилляции сечения фотопоглощения обу-
словлены волновыми функциями конечных состояний фо-
тоэлектрона. Теория ближнего порядка предлагает про-
стую физическую картину, позволяющую заменить сум-
мирование по бесконечному числу k-векторов в трех-
мерном пространстве рассмотрением интерференции, ис-
ходящей от поглотившего атома фотоэлектронной' волны и
волн, рассеянных назад ближайшими соседними атомами.
При этом результат интерференции будет определяться
соотношением между длиной волны фотоэлектрона и рас-
стоянием Rj до соседнего рассеивающего атома — член
sin(2kRj) в (3.1) (рис. 3.2). В приближении однократного
обратного рассеяния наличие нескольких рассеивающих
атомов сводится к суперпозиции подобных вкладов от-
дельных рассеивателей. Учет зависимых от k амплитуды и
фазы обратного рассеяния, а также сдвига фазы фотоэлек-
тронной волны в потенциале собственного атома опреде-
ляет множитель следующего вида:
    fπ(k) sin (2kRj + σj).                          (3.3)
   Множитель ехр(–2σ2jk2) учитывает тот факт, что про-
цессы, определяющие тонкую структуру рентгеновских
спектров поглощения, характеризуются временами более
короткими, чем движение молекул. Измерения положения,
таким образом, являются моментальным снимком положе-

                         - 129 -