Синхротронное излучение в спектроскопии. Михайлин В.В. - 131 стр.

ния атомов. Следует поэтому провести усреднение по
мгновенным положениям атомов. Для монокристаллов ре-
зультат усреднения зависит от угла между вектором поля-
ризации и осями кристалла. В поликристаллических, жид-
ких и аморфных образцах следует учитывать только |Rj|. В
простейшем случае результирующее распределение пред-
ставляют как гауссиан. Результат усреднения выглядит та-
ким образом в случае гармонических колебаний атомов
структурной разупорядоченности, описываемой гауссовым
распределением, тогда σ2j – фактор Дебая— Уаллера. Фак-
тор Дебая—Уаллера в EXAFS отличен от рассматриваемо-
го в рентгеновской дифракции, где важно смещение ато-
мов относительно кристаллического центра масс. В
EXAFS существенны лишь смещения рассеивателя отно-
сительно поглощающего атома.
                                   Рис. 3.2. Распространение
                                   фотоэлектрона с длиной вол-
                                   ны λ:
                                   а, б – конструктивная и деструк-
                                   тивная интерференция волн



    Для сильно разупорядоченных систем гауссово распре-
деление неприменимо. В этом случае от суммирования по
координационным сферам переходят к интегрированию по
парным корреляционным функциям g(Rj):
 χ (k ) = ∑ d 3 R j g ( R j ) χ (k j Ri ).         (3.4)
        j

   Значения фактора Дебая—Уаллера обычно получают из
температурных зависимостей логарифма амплитуды
EXAFS.
   В соответствии с (3.1) точность определения радиуса
координационной сферы зависит от точности определения
полного сдвига σj(k), а координационное число опре-
деляется амплитудой fπ(k). Для получения структурной
информации о новых соединениях используют два подхода

                         - 130 -