Синхротронное излучение в спектроскопии. Михайлин В.В. - 136 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

МГУ | Москва

Составители: 

Рубрика: 

- 135 -
ричные процессы взаимодействия излучения с веществом
(регистрация оже- и фотоэлектронов, флюоресценции,
полного фототока, потока десорбированных ионов и т. д.).
В настоящее время число методик получения EXAFS-
спектров растет пропорционально расширению области
применения данного метода. Наибольший интерес EXAFS-
спектроскопия представляет в том случае, когда проблема
определения расстояний и координационных чисел прак-
тически неразрешима для методов микроскопии и рентге-
новской дифракции из-за малых размеров объекта, сильно-
го структурного разупорядочения образцов.
В СССР первые экспериментальные работы по EXAFS-
спектроскопии с использованием СИ были проделаны в
ИЯФ СО АН СССР. На ВЭПП-3 был создан спектрометр,
реализующий методику получения EXAFS-спектров по
прохождению, при котором измерение коэффициента по-
глощения образца проводится двумя ионизационными ка-
мерами: первая необходима для нормировки интенсив-
ности излучения перед образцом, вторая измеряет интен-
сивность прошедшего через образец излучения. На этой
установке группой сотрудников Института катализа СО
АН СССР и других организаций был проделан ряд работ
по исследованию методом EXAFS металлических ката-
лизаторов, нанесенных на окисные подложки с разветв-
ленной поверхностью; аморфных металлов, представляю-
щих собой многокомпонентные системы; активных цен-
тров ряда кальцийсвязывающих белков различного проис-
хождения и функций, в аминокислотной последователь-
ности которых обнаружена гомология.
На накопителе ВЭПП-4 реализованы методики получе-
ния флюоресцентных (рис. 3.5) и поверхностных EXAFS-
спектров, что позволит расширить класс исследуемых объ-
ектов. 
ричные процессы взаимодействия излучения с веществом
(регистрация оже- и фотоэлектронов, флюоресценции,
полного фототока, потока десорбированных ионов и т. д.).
В настоящее время число методик получения EXAFS-
спектров растет пропорционально расширению области
применения данного метода. Наибольший интерес EXAFS-
спектроскопия представляет в том случае, когда проблема
определения расстояний и координационных чисел прак-
тически неразрешима для методов микроскопии и рентге-
новской дифракции из-за малых размеров объекта, сильно-
го структурного разупорядочения образцов.
   В СССР первые экспериментальные работы по EXAFS-
спектроскопии с использованием СИ были проделаны в
ИЯФ СО АН СССР. На ВЭПП-3 был создан спектрометр,
реализующий методику получения EXAFS-спектров по
прохождению, при котором измерение коэффициента по-
глощения образца проводится двумя ионизационными ка-
мерами: первая необходима для нормировки интенсив-
ности излучения перед образцом, вторая измеряет интен-
сивность прошедшего через образец излучения. На этой
установке группой сотрудников Института катализа СО
АН СССР и других организаций был проделан ряд работ
по исследованию методом EXAFS металлических ката-
лизаторов, нанесенных на окисные подложки с разветв-
ленной поверхностью; аморфных металлов, представляю-
щих собой многокомпонентные системы; активных цен-
тров ряда кальцийсвязывающих белков различного проис-
хождения и функций, в аминокислотной последователь-
ности которых обнаружена гомология.
   На накопителе ВЭПП-4 реализованы методики получе-
ния флюоресцентных (рис. 3.5) и поверхностных EXAFS-
спектров, что позволит расширить класс исследуемых объ-
ектов.


                         - 135 -

Страницы