Синхротронное излучение в спектроскопии. Михайлин В.В. - 66 стр.

света в веществе. Он непосредственно измеряется и выра-
жается в см-1. При этом интенсивность света падает по за-
кону Ламберта I ~ ехр(–αx).
   При исследовании взаимодействия света с веществом
основополагающим понятием служит понятие о частотной
дисперсии, т. е. о зависимости феноменологических кон-
стант от частоты падающего света. Практически все спек-
троскопические исследования сводятся к изучению зави-
симости различных процессов от ω. Поскольку абсолют-
ные значения со в области видимого света составляют
~1015 с-1, предпочитают говорить о длине волны λ=2лс/ω
или об энергии фотона hν, измеряемой в электрон-вольтах.
Энергия фотона, эВ, связана с длиной волны, нм,
   hv = 1239,8/λ.
   Мнимая часть диэлектрической проницаемости ε2(ω)
непосредственно связана с реальными переходами между
электронными состояниями в твердом теле (а в инфра-
красной области и между колебательными состояниями
решетки, связанными с поляризационными оптическими
фононами):
ε 2 (ω ) = 4π 2 N ∑ [1 − F ( E f )]F ( Ei ) f e∑ r jπ i |2 δ ( hν − hν fi ),
                 i, f                          j

где hνif = Ef – Ei – разность энергий конечного f и начально-
го i состояний; f e∑ r jπ i – матричный элемент диполь-
                           j

ного момента перехода между начальным и конечным со-
стояниями (π — вектор поляризации света, суммирование
проводится по всем электронам твердого тела); F(E) –
функция распределения состояний в твердом теле по энер-
гии (для чисто электронных переходов – фермиевская
функция распределения). Наличие множителя [1—
F(Ef)]×F(Ei) приводит в случае низких температур к тому,
что начальное состояние должно быть заполненным, а ко-

                                  - 65 -