Синхротронное излучение в спектроскопии. Михайлин В.В. - 67 стр.

нечное пустым. Для диэлектриков это означает, что пере-
ходы происходят из валентной зоны (или с остовного
уровня) в зону проводимости, а для металлов с состояний
под поверхностью Ферми в состояние над ней. Множитель
N связан с числом ячеек в твердом теле (если волновые
функции нормировать на элементарную ячейку).
   Изучение диэлектрических констант α, ε2 и других дает
наиболее прямую информацию о внутренних процессах в
кристаллах. Однако в силу ряда причин непосредственное
измерение этих констант бывает затруднено. Например, в
области фундаментального поглощения для измерения α
необходимы чрезвычайно тонкие слои вещества (≈10-5
см-1). Поэтому одной из основных задач спектроскопии яв-
ляется задача косвенных измерений диэлектрических кон-
стант. Широко распространены измерения коэффициента
отражения света R, имеющие и значительную самостоя-
тельную ценность.
   Для того чтобы получить связь коэффициента отраже-
ния с коэффициентами преломления п и поглощения κ,
рассматривается идеализированная задача отражения све-
та, падающего из вакуума на полубесконечную однород-
ную среду под углом θ между нормалью к поверхности и
направлением распространения света. При этом для полу-
чения коэффициента отражения падающей волны исполь-
зуют непрерывность тангенциальных к поверхности ком-
понент электрического поля волны и скачок нормальных
компонент с учетом комплексного показателя преломления
п+iκ. Получаемые формулы носят название формул Фре-
неля. Для разных поляризаций коэффициенты отражения
имеют вид (рис. 2.1).




                         - 66 -