Синхротронное излучение в спектроскопии. Михайлин В.В. - 69 стр.

    Рассмотрим коротко ряд способов измерения оптиче-
ских констант. В широкой области спектра возможно не-
посредственное измерение только коэффициента отраже-
ния R. Непосредственное измерение п ограничено обла-
стью прозрачности кристалла (α ≤ 1 см~1). Однако измере-
ние поглощения в области фундаментального поглощения,
как уже указывалось, требует очень тонких слоев вещест-
ва. Поэтому большое число косвенных методов опре-
деления оптических констант предусматривает измерение
коэффициента отражения. Поскольку из этих измерений
необходимо получить две независимые константы n и κ
(или ε1 и ε2), то приходится измерять 2 раза коэффициент
отражения света при разных условиях. Можно привести
несколько способов:
 1.    Измерение коэффициентов отражения света R1 и R2,
       падающего под двумя углами к поверхности θ1 и θ2.
 2.    Измерение R1 и R2 света с различной поляризацией.
 3.    Иммерсионные методы, при которых сравниваются
       коэффициенты отражения от кристалла в вакууме
       (на воздухе) и в прозрачной жидкой среде с извест-
       ным показателем преломления. Эти методы приме-
       нимы только в той спектральной области, где жид-
       кости прозрачны.
   Перечисленные методы приводят к системе двух урав-
нений, выражающих R1 и R2 через константы n и κ. Решить
такие системы можно. Однако эти методы имеют следую-
щее принципиальное ограничение. В ряде областей изме-
нения п и κ малым изменениям коэффициентов отражения
∆R1 и ∆R2 соответствуют большие изменения оптических
констант ∆n и ∆κ. Поскольку точность измерения R огра-
ничена, погрешности при определении коэффициента от-
ражения приводят к значительным погрешностям при вы-
числении оптических констант. Это сильно сужает область
применимости приведенных выше методов.

                          - 68 -