Оптика и квазиоптика СВЧ. Молотков Н.Я - 126 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ТГТУ | Тамбов

Составители: 

Рубрика: 

ция с направлена перпендикулярно к плоскости рисунка. Диполи ориентированы вдоль одного направления и
образуют семейство трёх плоскостей.
Рис. 182
Несмотря на то, что модель кристалла является пространственной, методически целесообразнее рассмат-
ривать её как "двумерную" с двенадцатью "атомами", расположенными в вертикальной плоскости и образую-
щими квадратную элементарную ячейку с постоянной решётки
d = 12 см. Переход от пространственных решё-
ток к двумерным намного упрощает рассмотрение дифракции рентгеновских лучей и часто бывает методически
оправдан.
Рис. 183
Схема расположения приборов для иллюстрации закона Вульфа–Брэггов представлена на рис. 183. Облу-
чение кристалла производится волной, электрический вектор
E которой лежит в плоскости чертежа. Данная
установка позволяет показать отражение от различных атомных плоскостей кристалла и при всевозможных
углах скольжения лучей. Движение источника радиоволн и приёмника синхронизировано с помощью панто-
графа так, что регистрация рассеянных лучей производится под теми же углами, что и облучение кристалла.
Углы, под которыми наблюдается отражение, отсчитываются по шкале прибора с точностью до 1
°, что доста-
точно для лекционного опыта.
Для демонстрирования справедливости закона Вульфа–Брэггов демонстратор плавно изменяет угол облу-
чения "кристалла" перемещением источника и приёмника радиоволн в противоположных направлениях. На
экране осциллографа, соединенного с приёмной антенной, наблюдают попеременное усиление и ослабление
отражённого от "кристалла" излучения в соответствии с законом интерференции. На рисунке 184 показана экс-
периментальная зависимость интенсивности
I рассеянного излучения от угла скольжения θ . Вертикальные
чёрточки на рис. 184 соответствуют положению интерференционных максимумов, рассчитанных по закону
Вульфа–Бреггов (3.13.9).
Формула (3.13.9) является основной при решении задач как структурных (определение межплоскостных
атомных расстояний
d твёрдых веществ), так и спектроскопических (определение длины волны λ рентгеновско-
го излучения). Остановимся на основных методах рентгеноструктурного анализа.
Метод Лауэ. В этом методе неподвижный кристалл облучается узким пучком рентгеновских лучей, кото-
рый содержит сплошной спектр длин волн. В данном случае используется так называемое
тормозное излуче-
ние. В кристалле содержатся системы параллельных атомных плоскостей различной ориентации. Для каждой
такой системы атомных плоскостей, ориентированных под углом скольжения
θ
к первичному рентгеновскому
пучку, найдётся длина волны λ сплошного спектра, которая удовлетворяет закону (3.13.9) и даёт дифракцион-
ный максимум. На рисунке 185 приведена Лауэграмма берилла. Так как в этом методе не известны длины волн,

Страницы