ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
13
Таким образом, поверхностная плотность зарядов увеличивается с ростом
кривизны поверхности, т.е. с уменьшением радиуса кривизны.
С помощью аналогичных рассуждений можно убедиться, что на вогнутой
поверхности проводника плотность заряда меньше чем на выпуклой.
Сравним напряженности поля у поверхности двух проводящих шаров
разного радиуса (
ab> ), потенциалы которых одинаковы. Такая ситуация
может быть реализована если каждый из шаров был заряжен путем соединения
его с заряженным проводником, электрическая емкость которого очень велика.
Заряды на поверхности шаров распределены равномерно и напряженности поля
равны:
22
00
11
,
44
ab
ab
qq
EE
ab
πε πε
==, (12)
где
,, ,
aa bb
E
qEq - напряженности поля и заряды шаров радиуса a и b,
соответственно. Поскольку потенциалы шаров одинаковы, то:
00
11
,,.
44
aba
ab
b
qqqa
abqb
ϕϕ
πε πε
== = (13)
Отношение напряженностей полей у поверхности шаров равно:
a
b
E
b
E
a
=
, (14)
т.е. чем меньше радиус шара, тем больше напряженность поля у его
поверхности. Таким образом, чем меньше радиус кривизны поверхности
проводника, тем больше поверхностная плотность заряда.
Ионный микроскоп
Простым, наглядным и часто демонстрируемым опытом,
свидетельствующем об увеличении поверхностной плотности заряда на
выпуклых поверхностях проводников, является стекание заряда с острия или
электрический ветер. Высокая напряженность электрического поля,
окружающего всякий острый выступ проводника, получила применение в
ионном микроскопе. С помощью полевого ионного микроскопа можно
различать детали, находящиеся на расстоянии 0.2 – 0.3 нм, что
дает
Таким образом, поверхностная плотность зарядов увеличивается с ростом кривизны поверхности, т.е. с уменьшением радиуса кривизны. С помощью аналогичных рассуждений можно убедиться, что на вогнутой поверхности проводника плотность заряда меньше чем на выпуклой. Сравним напряженности поля у поверхности двух проводящих шаров разного радиуса ( a > b ), потенциалы которых одинаковы. Такая ситуация может быть реализована если каждый из шаров был заряжен путем соединения его с заряженным проводником, электрическая емкость которого очень велика. Заряды на поверхности шаров распределены равномерно и напряженности поля равны: 1 qa 1 qb Ea = , Eb = , (12) 4πε 0 a 2 4πε 0 b 2 где Ea , qa , Eb , qb - напряженности поля и заряды шаров радиуса a и b, соответственно. Поскольку потенциалы шаров одинаковы, то: 1 qa 1 qb qa a ϕ a = ϕb , = , = . (13) 4πε 0 a 4πε 0 b qb b Отношение напряженностей полей у поверхности шаров равно: Ea b = , (14) Eb a т.е. чем меньше радиус шара, тем больше напряженность поля у его поверхности. Таким образом, чем меньше радиус кривизны поверхности проводника, тем больше поверхностная плотность заряда. Ионный микроскоп Простым, наглядным и часто демонстрируемым опытом, свидетельствующем об увеличении поверхностной плотности заряда на выпуклых поверхностях проводников, является стекание заряда с острия или электрический ветер. Высокая напряженность электрического поля, окружающего всякий острый выступ проводника, получила применение в ионном микроскопе. С помощью полевого ионного микроскопа можно различать детали, находящиеся на расстоянии 0.2 – 0.3 нм, что дает 13
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 11
- 12
- 13
- 14
- 15
- …
- следующая ›
- последняя »