ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
12
на рисунке 5. Распределение электрического заряда по поверхности проводника
можно исследовать с помощью маленького металлического шарика,
насаженного на изолирующую ручку. Если такой проводник зарядить и
коснуться его шариком в точка А, то
стрелка электроскопа отклонится.
Если повторить тоже самое, касаясь
пробным шариком боковой
поверхности проводника, то
отклонение стрелки будет меньше, если коснуться
впадины в точке В, то
стрелка электроскопа практически не отклониться. Таким образом, плотность
заряда максимальна в точке А и минимальна в точке В.
Покажем, как это качественно можно объяснить. Рассмотрим сечение выпуклой
поверхности проводника (Рис. 6). В случае малой кривизны поверхности,
заряды, находящиеся вне элемента поверхности, на котором анализируется
плотность заряда (
точка А на рис.6), создают вблизи этого элемента
поверхности малую нормальную составляющую напряженности поля E
22
(см.
рисунок 6). Заряд, находящийся в окрестности точки А, должен быть таким,
чтобы скомпенсировать поле,
создаваемое всеми остальными
зарядами проводника, вблизи точки
А внутри проводника.
Следовательно, для компенсации
поля E
22
заряды на элементе
поверхности должны создать малую
напряженность поля
2211
EE
G
G
−=
(см.
рис.4), и, соответственно,
поверхностная плотность заряда
должна быть малой.
Если же кривизна поверхности
велика, то велика и напряженность
поля E
22
, и поверхностная плотность заряда должна быть существенно больше.
Рис. 5.
Рис. 6.
на рисунке 5. Распределение электрического заряда по поверхности проводника можно исследовать с помощью маленького металлического шарика, насаженного на изолирующую ручку. Если такой проводник зарядить и коснуться его шариком в точка А, то стрелка электроскопа отклонится. Если повторить тоже самое, касаясь пробным шариком боковой Рис. 5. поверхности проводника, то отклонение стрелки будет меньше, если коснуться впадины в точке В, то стрелка электроскопа практически не отклониться. Таким образом, плотность заряда максимальна в точке А и минимальна в точке В. Покажем, как это качественно можно объяснить. Рассмотрим сечение выпуклой поверхности проводника (Рис. 6). В случае малой кривизны поверхности, заряды, находящиеся вне элемента поверхности, на котором анализируется плотность заряда (точка А на рис.6), создают вблизи этого элемента поверхности малую нормальную составляющую напряженности поля E22 (см. рисунок 6). Заряд, находящийся в окрестности точки А, должен быть таким, чтобы скомпенсировать поле, создаваемое всеми остальными зарядами проводника, вблизи точки А внутри проводника. Следовательно, для компенсации поля E22 заряды на элементе поверхности должны создать малую G G напряженность поля E11 = − E 22 (см. рис.4), и, соответственно, поверхностная плотность заряда должна быть малой. Рис. 6. Если же кривизна поверхности велика, то велика и напряженность поля E22, и поверхностная плотность заряда должна быть существенно больше. 12
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 10
- 11
- 12
- 13
- 14
- …
- следующая ›
- последняя »