Способы исследования поверхности методами атомно-силовой и электронной микроскопии. Нагорнов Ю.С - 10 стр.

UptoLike

10
Рис. 1.2. Качественный вид потенциала Леннарда-Джонса [1].
В общем случае данная сила имеет как нормальную к поверхности,
так и латеральную (лежащую в плоскости поверхности образца)
составляющие. Реальное взаимодействие зонда с образцом имеет более
сложный характер, однако основные черты данного взаимодействия
сохраняются - зонд АСМ испытывает притяжение со стороны образца на
больших расстояниях и отталкивание на малых.
Рассмотрим общие черты, присущие различным зондовым
микроскопам. Пусть взаимодействие зонда с поверхностью
характеризуется некоторым параметром Р. Если существует достаточно
резкая и взаимно однозначная зависимость параметра Р от расстояния зонд
образец Р=Р (z), то данный параметр может быть использован для
организации системы обратной связи (ОС), контролирующей расстояние
между зондом и образцом. На рис. 1.3 схематично показан общий принцип
организации обратной связи сканирующего зондового микроскопа.