ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
8
ГЛАВА 1 ОСНОВЫ СКАНИРУЮЩЕЙ АТОМНО-СИЛОВОЙ И
ТУННЕЛЬНОЙ МИКРОСКОПИИ
1.1 Принцип работы атомно-силового микроскопа
Атомно-силовая микроскопия - вид зондовой микроскопии, в основе
которого лежит силовое взаимодействие атомов. На расстоянии около
одного ангстрема между атомами образца и атомом зонда (кантилевера)
возникают силы отталкивания, а на больших расстояниях - силы
притяжения. Идея устройства очень проста - кантилевер, перемещаясь
относительно поверхности и реагируя на силовое взаимодействие,
регистрирует ее рельеф.
В сканирующих зондовых микроскопах исследование микрорельефа
поверхности и ее локальных свойств проводится с помощью специальным
образом приготовленных зондов в виде игл. Рабочая часть таких зондов
(острие) имеет размеры порядка десяти нанометров. Характерное
расстояние между зондом и поверхностью образцов в зондовых
микроскопах по порядку величин составляет 0,1 – 10 нм.
В основе работы зондовых микроскопов лежат различные типы
взаимодействия зонда с поверхностью. Так, работа туннельного
микроскопа основана на явлении протекания туннельного тока между
металлической иглой и проводящим образцом; различные типы силового
взаимодействия лежат в основе работы атомно-силового, магнитно-
силового и электросилового микроскопов.
В основе работы АСМ лежит силовое взаимодействие между зондом
и поверхностью, для регистрации которого используются специальные
зондовые датчики, представляющие собой упругую консоль с острым
зондом на конце (рис. 1.1). Сила, действующая на зонд со стороны
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 6
- 7
- 8
- 9
- 10
- …
- следующая ›
- последняя »
