Способы исследования поверхности методами атомно-силовой и электронной микроскопии. Нагорнов Ю.С - 24 стр.

UptoLike

24
образца) записывается в память компьютера в виде функции Z = f (x,y), а
затем воспроизводится средствами компьютерной графики.
Рис.1.14. Формирование СТМ изображений поверхности по методу постоянного
туннельного тока (а) и постоянного среднего расстояния (б)
При исследовании атомарно гладких поверхностей часто более
эффективным оказывается получение СТМ изображения поверхности по
методу постоянной высоты Z = const. В этом случае зонд перемещается
над поверхностью на расстоянии нескольких ангстрем, при этом
изменения туннельного тока регистрируются в качестве СТМ изображения
поверхности (рис.1.14). Сканирование производится либо при
отключенной ОС, либо со скоростями, превышающими скорость реакции
ОС, так что ОС отрабатывает только плавные изменения рельефа
поверхности. В данном способе реализуются очень высокие скорости
сканирования и высокая частота получения СТМ изображений, что
позволяет вести наблюдение за изменениями, происходящими на
поверхности, практически в реальном времени.