Послойное исследование элементного и химического состава приповерхностных слоев твердых тел. Никитенков Н.Н. - 30 стр.

UptoLike

Составители: 

Рубрика: 

30
1. Устройство и работа составных частей масс-спектрометра
вторичных ионов МС-7201М
СВВ часть масс-спектрометра вторичных ионов МС-7201М,
функциональная схема которого представлена на рис.1, состоит из
сверхвысоковакуумной камеры, в которой расположены следующие
основные узлы:
1) два ионных источника И) (поз.1) с оптической системой
фокусировки первичного пучка (поз.2);
2) двухканальный иммерсионный объектив (поз. 3);
3) масс сепаратор – двухканальный монополь (стрелка "анализатор");
4) двухканального ионно-электронного преобразователя с энерго-
анализатором (стрелка ИЭП);
5) вторично-электронного умножителя типа ВЭУ-2 (стрелка ВЭУ);
6) держателя образцов со шлюзовой камерой (поз.4)
1.1. Технические характеристики основных узлов установки:
1) напряжение анодов ионных источников порядка 4 кВ;
2) напряжение на оптике ионных источников порядка 4 кВ;
Рис.1. Функциональная схема масс-спектрометра вторичных
ионов МС-7201М