Преломление и отражение рентгеновского излучения. Павлинский Г.В. - 25 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ИГУ | Иркутск

Составители: 

Рубрика: 

25
Рис.7. Отражательная 6способность I / I
0
тонкого кобальтового
слоя (d=30 нм) на массивной кремниевой подложке как функция
угла скольжения ϕ
0
. Расчет выполнен для MoKα - излучения
(λ=0.071нм). Мелкой штриховой кривой обозначена отражательная
способность Co. Крупной штриховой кривой обозначена
отражательная способность Si. Мелкая и крупная штриховые
вертикали отмечают критические углы (ϕ
0
)
max
для Co и Si
соответственно.
1. Израилева Л.К., Боровский И.Б. Исследование формул Френеля в
рентгеновской области// Изв.АН СССР . Сер. физ., 1972, т.36, No.2,
с.438-450.
2. Klockenkamper R. Total-reflection X-ray fluorescence analysis
(edit.Winefordner J.D.) // John Willey & Sons Inc.: New York, 1997,
245 p.
3. Эйхенвальд А.А. Теоретическая физика, ч.6// М.-Л., ГНТИ, 1931,
368с.
4. Синайский В.М. Экспериментальная проверка применимости
формул Френеля в случае полного внешнего отражения
рентгеновского излучения// Аппаратура и методы рентгеновского
анализа, Л.: Машиностроение, 1974, вып.14, с.184-189.
PDF created with FinePrint pdfFactory Pro trial version http://www.fineprint.com
                  Рис.7. Отражательная 6способность I / I0 тонкого кобальтового
             слоя (d=30 нм) на массивной кремниевой подложке как функция
             угла скольжения ϕ0. Расчет выполнен для MoKα - излучения
             (λ=0.071нм). Мелкой штриховой кривой обозначена отражательная
             способность Co. Крупной штриховой кривой обозначена
             отражательная способность Si. Мелкая и крупная штриховые
             вертикали отмечают критические углы (ϕ0)max для Co и Si
             соответственно.




             1. Израилева Л.К., Боровский И.Б. Исследование формул Френеля в
             рентгеновской области// Изв.АН СССР . Сер. физ., 1972, т.36, No.2,
             с.438-450.
             2. Klockenkamper R. Total-reflection X-ray fluorescence analysis
             (edit.Winefordner J.D.) // John Willey & Sons Inc.: New York, 1997,
             245 p.
             3. Эйхенвальд А.А. Теоретическая физика, ч.6// М.-Л., ГНТИ, 1931,
              368с.
             4. Синайский В.М. Экспериментальная проверка применимости
             формул Френеля в случае полного внешнего отражения
             рентгеновского излучения// Аппаратура и методы рентгеновского
             анализа, Л.: Машиностроение, 1974, вып.14, с.184-189.



                                                                                   25

PDF created with FinePrint pdfFactory Pro trial version http://www.fineprint.com

Страницы