Сборка и монтаж интегральных микросхем. Романова М.П. - 60 стр.

UptoLike

Составители:

Рубрика:

скрытые – будущую надежность по трем ее составляющим (безотказности, долго-

вечности и сохраняемости).

Рис.7.1. Постепенный отказ ИС. Гистограммы сняты при t = 0 и t = 1000 ч

Наибольшую трудность представляет выявление скрытых дефектов. Произ-

водство, предназначенное для выпуска изделий высокого качества, должно преду-

сматривать в своем цикле операции, которые позволяли бы создать провокацион-

ные условия для проявления скрытых дефектов.

В нормалях на готовые ИС указываются, как правило, показатели производст-

венной надежности. Производственная надежность определяется в предельных ре-

жимах при максимально допустимой нагрузке и наиболее интенсивных воздейст-

виях внешней среды.

Эксплуатационная надежность устанавливается для конкретных, обычно более

легких условий использования ИС в РЭА и поэтому выше производственной. Это

различие показателей эксплуатационной и производственной надежности дает раз-

работчику РЭА большие возможности повышения надежности РЭА в целом, ис-

пользуя облегченные режимы эксплуатации для применяемых ИС.

Но различие в толковании надежности изготовителем и потребителем ИС со-

стоит не только в этом. Для потребителя надежность всегда вероятностна и оцени-

вается статистическими показателями с тем или иным уровнем достоверности. Ка-

ждому потребителю данная ИС из партии поступает на сборку РЭА случайно,

внутри партии ИС имеют случайные отклонения своих показателей качества (в том

числе и по надежности).

Статистическая оценка надежности представляет интерес и для изготовителя,

если его продукция выпускается очень большими партиями, как в случае однотип-

ных ИС общего применения. Однако с уменьшением числа ИС в партии достовер-

ность и доступность установления вероятностных показателей надежности ИС на-