Интерференционный метод измерения толщины прозрачных слоев и покрытий. Рябухо В.П. - 14 стр.

UptoLike

Составители:

Рубрика:

Интерферометрия рассеивающих сред

на металлическую подложку, размеры спеклов увеличиваются (формула (5)), что приводит

к постепенному появлению интерференционных полос в пределах отдельных спеклов

(рис.8,б,в). На рис.8,г приведена почти регулярная интерференционная картина, полосы

которой описывают незначительный изгиб при переходе от одного спекла к соседнему и

ветвятся в точках с нулевой амплитудой спекл-поля. Такая картина полос вполне прием-

лема для проведения измерения толщины покрытия.

Рис.8. Развитие картины регулярных интерференционных полос на фоне лазерной спекл-

структуры по мере совмещения перетяжки лазерного пучка с шероховатой поверхностью

подложки прозрачного слоя.