Интерференционный метод измерения толщины прозрачных слоев и покрытий. Рябухо В.П. - 17 стр.

UptoLike

Составители: 

Рубрика: 

Интерференционный метод измерения толщины прозрачных слоев
15
лянной пластины или покрытия. Регулировочным винтом столика добиться острой фоку-
сировки лазерного пучка на стеклянной пластине или поверхности подложки лакового
покрытия. При этом на экране телевизионного монитора 10 должна появиться достаточно
четкая интерференционная картина в виде системы сравнительно прямолинейных верти-
кальных полос.
2. Определить период интерференционных полос, появившихся на экране монито-
ра, при помощи миллиметровой линейки. Для этого необходимо:
1) выбрать на экране
m
отчетливых полос;
2) по шкале линейки определить расстояние
(
)
ммвL между ними;
3) рассчитать период
Λ
по формуле
(
)
1/
=
Λ
mL
.
3. Процедуру получения четких интерференционных полос и определения их пе-
риода по п.п.1 и 2 выполнить
N
раз и определить среднее значение периода полос
Λ
.
4. Используя полученное таким образом значение
Λ
и градуировочного коэффи-
циента
β
, по формуле (7) вычислить толщину
h
стеклянной пластины или контролируе-
мого участка покрытия.
5. Установить источники и оценить составляющие погрешности измерения покры-
тий
h
.