Контроль параметров микроструктуры материалов методами дифракционного анализа - 27 стр.

UptoLike

Таблица 1
Индексы
плоскости
ОЦК ГЦК Алмаз
100 0 0 0
110
2f
0 0
111 0
4f
( )
i+14f
200
2f
4f
0
210 0 0 0
220
2f
4f
8f
300, 200 0 0 0
310
2f
0 0
311 0
4f
( )
i+14f
222
2f
4f
0
5. АТОМНЫЙ ФАКТОР РАССЕЯНИЯ
В выражение (29) для геометрического структурного фактора
входит величина
j
f
, которая, как мы определили, является мерой
рассеивающей способности
j
-го атома элементарной ячейки. При
рассеянии рентгеновских лучей основную роль играют электроны
атомов, так как масса ядра слишком велика, чтобы «почувствовать»
рентгеновский квант.
Величина
j
f
зависит от числа и распределения электронов
атома, а также от длины волны и угла рассеяния излучения. Эти
множители появляются вследствие интерференционных эффектов,
обусловленных конечным размером атомов. Произведем расчет
фактора рассеяния в рамках классических представлений.
Излучение, рассеянное единичным атомом, должно учесть
интерференционные эффекты внутри атома. Выше [см. формулу (27)]
была определена функция
rdc(r)e=f
irG
G
3
, (32)
где интегрирование осуществляется в пределах электронной
плотности с(r), связанной с единичным атомом.
27